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Academic year: 2021

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(1)

보안과제( ), 일반과제(○) 13-971-04-002

방송통신기술개발사업

지연시간 최소화를 위한 고속 데이터 광 전송용 ADC/DAC 개발

(Development of High-speed Data Optical Transmission ADC/DAC for Minimization of Time Delay)

2014. 04. 30.

(주)알윈

미 래 창 조 과 학 부

(2)

제 출 문

미래창조과학부 장관 귀하

이 보고서를 "지연시간 최소화를 위한 고속 데이터 광 전송용 ADC/DAC 개발" 과

제의 보고서로 제출합니다.

2014. 04.

주관연구기관 : (주)알윈

총괄 책임자 : 조규완

(3)

기술개발사업 연차보고서 초록

과제번호 13-971-04-002

과제명 지연시간 최소화를 위한 고속 데이터 광 전송용 ADC/DAC 개발 키워드 직접 변환/아날로그디지털 변환기/디지털아날로그 변환기/광전송

/지연시간

개발목표 및 내용 1. 단계목표

o Direct ADC(Analog to Digital 변환기)의 개발 - 고속 포락선 검출기 개발

- Slice limiting 개발 - 제어보드 개발 2. 개발내용 및 결과

o Direct ADC(Analog to Digital 변환기)의 개발 완료

- 지연시간 : ADC의 지연시간 측정은 Digital Scope로 입력단의 아날로그 동기점을 기준으로 하여 최종 ADC된 Digital 신호의 동기점을 비교 측정하여 ADC의 지연 시간을 측정 하였음

- 사용된 Digital Scope는 4채널 500MHz Test Range를 갖는 장비임 - EVM : EVM측정은 2차년도 DAC 개발 후 측정 예정

- 소모 전력 : 소모 전력은 5V 200mA정도 소모됨 - 전송 대역 : 2차년도 DAC 개발 후 측정 예정 - SNR 측정 : 2차년도 DAC 개발 후 측정 예정

- UTP Cable 전송 : 2차년도 DAC 개발 후 측정 예정 3. 기대효과(기술적 및 경제적 효과)

o 고속 데이터 전송용으로 제품의 차별화를 이루어 LTE용 전송장치로 제품의 성능을 부각시키고, 가격대비 성능의 경쟁력과 시스템구성의 편리성을 부각시킬 수 있음 o ADC/DAC를 단일 부품으로 양산하고 이를 이용해 인빌딩 광 전송 장치와 UTP 전 송 장치를 양산함

o 국내 이동통신 3사에 LTE용 ADC/DAC 전송 장치를 소개하고 해외 중국 중계기 제조업체에 부품 제공 및 시험을 통한 판로를 확보함

4. 적용분야

o 광 및 UTP 전송 기반의 통신망과 LTE, LTE-A급 중계기의 아날로그 디지털 신호변환

(4)

기술개발사업 주요 연구성과

사업명 방송통신기술개발사업

과제명 지연시간 최소화를 위한 고속 데이터 광 전송용 ADC/DAC 개발

주관기관명 (주)알윈 설립일

주소 (430-850)경기 안양 만안구 안양7동 192-21,찬재빌딩401 대표자(기관장) 조 규 완 연락처 031-442-7563

총괄책임자 조 규 완 FAX 031-441-4627

총개발기간 2013. 07. 01. ~ 2015. 06. 30.

총사업비(백만원) 400 정부출연금 300 민간부담금 100 참여기관(책임자)

성과지표 세부지표 성 과 비 고

사업화 성과

매출액

개발제품 개발후 현재까지 0억원 향후 3년간 매출 20억원 관련제품 개발후 현재까지 0억원

향후 3년간 매출 0억원

시장 점유율

개발제품

개발후 현재까지 국내 : 0%

국외 : 0%

향후 3년간 매출 국내 : 100%

국외 : 0%

국내시장 독점공급

관련제품

개발후 현재까지 국내 : 0%

국외 : 0%

향후 3년간 매출 국내 : 0%

국외 : 0%

세계시장 경쟁력 순위

현재 제품 세계시장 경쟁력 순위 위 3년 후 제품 세계 시장경쟁력 순위 위

기술적 성과

특허

국내 출원 1 건 5월중 예정

등록 1 건 5월중 예정

국외 출원 건

등록 건

논문발표 국내 2 건 6월중 예정

국외 건

표준화 국내 건 (기고/채택/반영)

국외 건 (기고/채택/반영)

프로그램 건

파급효과

고용효과 개발 전 명

개발 후 20 명

선진국 대비 기술수준 %

국산화율 100%

기타 표준 제개정, 기술이전 및 수상실적 등

(5)

□ 구체적인 연구 성과

1. 지식재산권

1) 종류 : 01-특허, 02-실용신안, 03-디자인, 04-상표, 99-기타

2) 해외출원 여부 : 1-국내 출원, 2-PCT 해외 출원, 3-일반 해외 출원 2. 논문 게재/발표 실적

1) 논문구분 : 01-국외전문학술지, 02-국외학술대회발표논문집, 03-국내전문학술지, 04-국내학술대회발표논문집, 05-국외기타논문집, 06-국내기타논문집

3. 표준화 실적

1) 구분 : 기고, 채택, 반영

4. 기술이전(기술료) 실적

5. 인증/포상 실적 등 (국내 및 국외)

번호 구분 명칭 일시 국명 수여기관명 발생차수

차년도 차년도 차년도 차년도

1)

종류

2)

해외

출원

국내 / 국외

출원 (등 록 )국

출원 (등록) 구분

출원 (등록)

번호 발명명칭 출원 (등록)

기관 출원 (등록)일

01 1 1 5월중 출원

및 등록 예정

1)

논문

구분 학술지명 논문명 저자명 SCI

구분 출판일 학술대회명 학술대회 개최국

학술대회 발표일 03

04 정보과학회

지연시간 최소 회를 위한 고속 데이터 광 전송 용 ADC/DAC 연구

안창엽

외 4명 X 6월 14일

발표예정

기고서명 표준

기구명 표준명 회의명 기고자

1)

구분 기고/채택/반영 일시

기고/채택/반영 번호

계약명 계약

년도

대상 국가

기 징수액 (백만원)

당해년도 징수액 (백만원)

계약

체결일 실시내용 대상기관명

(6)

6. 사업화 계획 및 매출실적

항 목 세부 항목 성 과

사업화 계획

사업화 소요기간(년) 소요예산(백만원)

예상 매출규모 (억원)

현재까지 3년후 5년후

0 20 50

시장점유 율

단위(%) 현재까지 3년후 5년후

국내 0 100 100

국외 0 0 0

향후 관련기술, 제품을 응용한 타 모델, 제품

개발계획

7. 고용 창출

항목 세부 항목 성 과

고용효과

개발 전 연구인력 명

생산인력 명

개발 후 연구인력 명

생산인력 20 명

8. 기타 성과

9. 변경이력 (있을 경우 기재)

(7)

목 차

1 장 서론

1 절 개발기술의 중요성 및 필요성 ···1

1. 개발 대상 기술의 개요 ···1

2. 개발 대상 기술·제품의 중요성과 필요성 ···5

. 기술적 측면 ···5

. 경제적·산업적 측면 ···5

. 사회적 측면 ···6

2 절 기술개발 시 예상되는 기술적 경제적 파급효과 ··· 6

1. 기술적 파급효과 ···6

2. 경제적 파급효과 ···6

2 장 기술개발 내용 및 방법 ···7

1 절 최종 목표 및 평가 방법 ···7

1. 기술개발 최종목표 ···7

2. 기술개발 평가방법 ···8

2 절 연차별 개발 내용 및 개발범위 ···9

1. 1차년도 개발 내용 및 개발범위 ···9

3 장 결과 및 향후계획 ···12

1 절 연구개발 결과 ···12

1. 연차 연구개발 추진 일정 ···12

2. 연차 연구개발 추진 실적 ···13

3. 각 기관/기업별 추진 내역 ···16

4. 기술개발 결과의 유형 및 무형 성과 전체를 기재 ···17

. 국내·외 ADC 현황 및 기술 조사 분석 ···17

. Direct ADC 개발 ···60

2 절 시장 현황 및 사업화 전망 ···66

3 절 차기 연차 계획 ···75

1. 2차년도 기술개발 개요 ···75

2. 2차년도 기술개발 중요성 및 필요성 ···75

(8)

3. 2차년도 기술개발 추진계획 ···75

. 2차년도 추진 일정 ···76

. 2차년도 추진 방법 및 전략 ···78

. 2차년도 기술개발 추진체계 ···79

4. 2차년도 기술개발 내용 ···80

4 절 사업비 사용현황 ···82

5 절 기업 재무건전성 현황 ···84

별첨 1. 자체보안관리진단표 ···85

(9)

표 목 차

(표 2-1) 정량적 목표항목 ··· 8

(표 2-2) Direct ADC 개발 평가 항목 ··· 10

(표 3-1) 노이즈 마진: MC10EP16DT 수신기로 인터페이스되는 MC10EP16DT 57 (표 3-2) 노이즈 마진: MC100EP16DT 수신기로 인터페이스되는 MC10EP16DT 57 (표 3-3) 노이즈 마진: MC10EP16DT 수신기로 인터페이스되는 MC100EP16DT 58 (표 3-4) 분기별 국내 가입자 수 전망 ··· 67

(표 3-5) 국내 누적 LTE 기지국 설치 수 ··· 68

(표 3-6) 국내 LTE 핸드셋 출하량 ··· 69

(표 3-7) 국외 LTE 누적 가입자 수 전망 ··· 69

(표 3-8) 국외 LTE 월 평균 매출액 전망 ··· 70

(표 3-9) 국외 LTE 서비스 매출액 전망 ··· 70

(표 3-10) 국외 주파수 대역별 LTE 기지국 출하량 ··· 71

(표 3-11) 기지국 장비 지출액 ··· 72

(표 3-12) LTE Gateway 출하량 ··· 72

(표 3-13) LTE 기지국 DSP 출하량 ··· 73

(표 3-14) LTE 모뎀 유형별 출하량 ··· 73

(표 3-15) LTE 핸드셋 출하량 ··· 74

(10)

그 림 목 차

(그림 1-1) 광 전송장치 구성도 ···1

(그림 1-2) 개발 ADC 장치의 구성도 ···2

(그림 1-3) 개발 DAC 장치의 구성도 ···2

(그림 2-1) Direct ADC 개발 최종 목표 ···7

(그림 2-2) 기존 ADC 회로 구성 PCB ···8

(그림 2-3) 포락선 검출 개념도 ···9

(그림 2-4) 주파수 응답시간 ···9

(그림 2-5) Sampling diagram ···10

(그림 2-6) Digital data ···11

(그림 2-7) 개발 ADC 보드의 예 ···11

(그림 3-1) ADC 최초 시제품 ···13

(그림 3-2) ADC 최종 시제품 ···13

(그림 3-3) 지연시간 신호 파형 ···14

(그림 3-4) 지연시간 측정 ···14

(그림 3-5) ADC 소모 전력 측정 ···15

(그림 3-6) 광 전송용 ADC/DAC 개발을 위한 추진체계도 ···16

(그림 3-7) LTC2269 블록도 ···17

(그림 3-8) LTC2269 INL ···18

(그림 3-9) LTC2270 Pin 블록도 ···19

(그림 3-10) 리니어의 저전력 16비트의 20Msps ADC ···20

(그림 3-11) LTC2389-18 Typical application ···20

(그림 3-12) 18비트 2.5Msps SAR ADC ···21

(그림 3-13) ETRI의 10bit 200Msps ADC 회로 구조 ···22

(그림 3-14) 인터실의 12-비트 500Msps ADC ···22

(그림 3-15) ISLA112P50 LVDS and CMOS timing diagram ···23

(그림 3-16) Texas Instruments ADS6425 ···23

(그림 3-17) TI의 4채널 12비트 ADC ···24

(그림 3-18) AD9648 CMOS 출력모드 타이밍 다이어그램 ···25

(그림 3-19) AD9648 블록 다이어그램 ···25

(그림 3-20) AD9648 Parallel CMOS pin configuration ···26

(그림 3-21) 아날로그디바이스의 AD9648, AD9642 ···26

(그림 3-22) 작동 주기(duty cycle) skew ···27

(그림 3-23) output-to-output skew ···28

(11)

(그림 3-24) VBB 유도 작동 주기 skew ···30

(그림 3-25) TPD vs 환경 조건 비교 ···31

(그림 3-26) 180° 이동 2상 클럭 ···32

(그림 3-27) ICC/게이트 vs 주파수 비교 ···34

(그림 3-28) ECL 클럭 분배 tree ···35

(그림 3-29) ECL에서 TTL로의 클럭 분배 ···36

(그림 3-30) 혼합된 ECL과 TTL 분배 ···37

(그림 3-31) ECL의 높은 대역폭, 라인 구동 역량의 일반적 이용법 ···39

(그림 3-32) ECL/PECL 장치에 대한 종단 기법들 ···41

(그림 3-33) Twisted Pair Termination Techniques ···44

(그림 3-34) 혼합된 로직 시스템에서의 전원 plane 분리 ···45

(그림 3-35) 일반적인 driver/수신기 쌍 ···46

(그림 3-36) 표준 차별적 ECL 상호접속 ···47

(그림 3-37) 표준 SE ECL 상호접속 ···47

(그림 3-38) 독립적인 표준 SE 수신기와 차별적 driver ···48

(그림 3-39) 표준 SE 수신기와 VBB ···49

(그림 3-40) VBB 교차 전압 ···49

(그림 3-41) VBB의 신호 50% 교차점 이동시 펄스 폭 ···49

(그림 3-42) vBB의 신호 50% 교차점 이동시 펄스 폭 ···50

(그림 3-43) VBB 전압 참조 생성기 ···51

(그림 3-44) vpp – input 동요 전압 peak-to-peak ···52

(그림 3-45) 차별적 input 높은 노이즈 면역성 ···52

(그림 3-46) VIH 일반 방식 범위, VIHCMR ···53

(그림 3-47) output vs 부하 구동 특징 ···54

(그림 3-48) 10E시리즈 Vin vs Vout 전이곡선 ···55

(그림 3-49) 100E시리즈 Vin vs Vout 전이곡선 ···55

(그림 3-50) 10K시리즈 Vin vs Vout 전이곡선 ···55

(그림 3-51) 10KH시리즈 Vin vs Vout 전이곡선 ···55

(그림 3-52) SE 노이즈 마진 ···56

(그림 3-53) 288mV Hysteresis(이력현상)과 Schmitt Trigger ···59

(그림 3-54) ADC 블록 다이어그램 ···60

(그림 3-55) Analog 변조 신호 ···60

(그림 3-56) Analog 상세 파형 ···61

(그림 3-57) 1차 Slicing 파형 ···61

(그림 3-58) Slicing Bias Block ···61

(12)

(그림 3-60) 2nd Slicing 구성도 ···62

(그림 3-61) 1차 Slicing 과 3차 Slicing 파형 비교 ···63

(그림 3-62) 3차 Slicing 구성도 ···64

(그림 3-63) 4차 Slicing 구성도 ···64

(그림 3-64) 4차 A/D 변환된 파형 ···65

(그림 3-65) Digital Noise cancellation ···65

(그림 3-66) 세계 모바일 수익 증가추이 ···66

(그림 3-67) 개발 DAC 장치의 구성도 ···75

(13)

제 1 절 개발기술의 중요성 및 필요성

1. 개발 대상 기술의 개요

o 스마트폰의 보급, 클라우드 서비스 도입 등으로 네트워크에서의 대역폭 확장 요구가 끊 임없이 요구되고 있으며, 이로 인해 기반 망인 광 전송망 업그레이드가 필요하며 새로운 광전송 기술에 대한 수요가 계속 이어지고 있음

o 통신망의 대역폭 증가 추세가 계속 이어지고 있어 현재보다 우수한 광대역망을 구현하 기 위한 기술혁신이 요구 되고 있음

o 광대역 시대를 촉진시키는 주요 요인들과 발전 방향을 보면 아래와 같음 - 데이터 센터의 대용량화

- 액세스망의 광대역화 - 이더넷/광 백본망의 고속화 - 모바일 백홀의 광대역화

- 가입자 접속점의 스마트화 : 스마트폰, 스마트TV등

o 광 전송장치는 전기신호를 광신호로 변환하는 발광기(송신기), 광신호를 전달하는 광섬 유 케이블, 광신호를 전송 도중에 증폭하는 중계기, 전해진 광신호를 전기신호로 변환하 는 수광기(수신기)로 구성되는 일련의 광통신 시스템임

o 아래 그림은 일반적으로 사용되는 광 전송장치의 구성도임

그림 1-1. 광 전송장치 구성도

(14)

그림 1-2. 개발 ADC 장치의 구성도

그림 1-3. 개발 DAC 장치의 구성도

o 본 과제의 개발 기술은 그림1에서 ADC/DAC부분의 개발에 있음

- 기존 광전송에 사용되는 ADC/DAC장치는, 시간지연이 6~8㎲정도 발생 하는 것이 일반 적이지만 본 과제에서 개발하고자 하는 광 ADC/DAC는 직접 변환 방식을 사용하여 2

㎲이내의 시간지연을 갖는 새로운 개념의 ADC/DAC장치로서 LTE, WCDMA 전송방 식에서 고속 데이터 전송이 가능하도록 하고 있음

o 이전 세대 ADC의 한계

- 90년대 중반까지 ADC는 ±5V 또는 ±10V의 양극식 입력 전압 범위를 제공함 - 선형화된 레지스터를 포함한 2mm 및 3mm CMOS 프로세스에 의해 지원됨

- 예가 버브라운(Burr-Brown)의 ADS7809의 경우 차동비선형(DNL)은 트루 16비트의 성 능을 발휘하지만, 전환률이 낮고 전력소비가 높음

- 전환률이 낮고 전력소비가 높은 이유는 요구되는 트랜지스터의 크기 때문임 - 콤퍼레이터 입력은 잡음이 낮은 차동 한 쌍을 필요로 함

- MOS 트랜지스터의 잡음은 트랜스컨덕턴스gm의 한 기능으로써, 그 자체가 트랜지스터

와 트랜지스터를 통과하는 전류의 길이 L에 대한 폭 W의 비율과 상관관계에 있음

- 최소 길이는 프로세스에 의해 제한되며, 폭은 넓고 전류는 높아야 함

(15)

- 디바이스의 크기는 필수적인 패러시틱 커패시턴스를 발생시킴

- 콤퍼레이터 내부의 두 번째 게인 스테이지의 게이트 커패시턴스는 첫 번째 차동 한쌍 의 속도를 제한하게 될 것이고, 그러면 컨버터의 전환률도 제한하게 됨

- 컨버터의 설계는 전력, 속도 및 잡음 간의 교환 설계임

- 이전 세대 ADC의 커다란 트랜지스터는 다이 크기를 크게 만들어, 결국 적은 산출에 비해 다이 비용이 높아지게 만들음

- 느린 속도 또한 테스트 시간을 늘어나게 함으로써 고성능 ADC는 가격이 높아짐 - 다이 크기가 크면 듀얼 인라인 패키지(dual inline packages, DIP) 같은 커다란 패키지

나 넓은 바디 표면에 장착하는 패키지 SOIC가 필요함

- 따라서 ADC에 관한 연구개발은 고전압 설계에서 멀어지고 대신에 게이트 길이가 낮은 CMOS 프로세스로 나아가게 됨

o 1세대 5V

- 5V 프로세스에서 최초의 16비트 ADC (버브라운의 ADS8320)는 1998년에 그 해의 제 품으로 선정됨

- 트랜지스터의 향상된 gm 덕분에 잡음 성능이 개선되었음

- 낮은 공급전압 및 더 작아진 패러시틱 커패시터 덕분에 전력은 급격히 줄어들었음 - SAR ADC를 터치스크린 제품 같은 휴대형 장비 및 배터리 구동 장비 등의 새로운 애

플리케이션에서 사용할 수 있게 됨

- 축소된 LSB (least significant bit) 크기는 컨버터를 더욱 민감하게 만들었으며 설계상 열 효과 및 패키지 변동이 불가피해져, 차동 선형(differential linearity)은 14-15비트로 제한되고, 통합선형(integral linearity)은 13-14비트로 제한됨

o 2세대 5V

- 제품을 더욱 견고하게 만들면서 잡음과 전력은 낮추는 새로운 아키텍처가 몇 가지 개발됨 - 아키텍처는 다이내믹 오류 수정(dynamic error correction)을 통해 MSB (most

significant bits)의 비트 결정 과정에서 오류를 허용함

- 콤퍼레이터는 높은 오버드라이브를 겪게 되고, 커다란 커패시터는 레퍼런스에 의해 재 충전되어야 함

- 이러한 오류는 LSB 결정 과정에서 수정되며, 이때 신호 레벨이 낮은 덕분에 안정 효과 가 완화됨

- 5V 프로세스에서 2 세대 SAR ADC의 선형이 개선되었음

- 외부 보정 커패시터를 사용한 새로운 레퍼런스 구성은 전력도 감소시켰으며 최적화된 DAC 설계는 잡음 성능을 개선시킴

- 전환률 1MSPS에서 최대 93dB까지 SNR (signal-to-noise ratio)이 달성되었고, 5V 공 급에서 39mW의 전력소비 및 2.7V 공급에서 15.5mW의 전력소비가 달성됨

- TI의 ADS8482같은 완전 차동 ADC 아키텍처가 출시되면서 LSB 크기 및 SNR에서 입 력 범위는 두 배가 되었음

- 이론상 6dB의 향상이 이루어질 수 있으며 해상도를 18비트로 상승시키면 양자화 잡음

이 감소되면서 100dB의 SNR이 가능해짐

(16)

o 고성능 아날로그 프로세스의 개발

- 중요한 것은 매칭이 뛰어난 레지스터로, 온도와 수명에 따른 드리프트가 낮아야 함 - 이러한 레지스터를 통해 고성능 R-2R DAC를 설계할 수 있음

- 또한 레지스터의 전압계수가 작은 경우, 매우 낮은 통합비선형(integral non-linearity) 에서도 스트링 DAC가 가능함

- 극도로 낮은 금속 피치를 통해 복잡한 디지털 인터페이스 및 기능도 설계할 수 있음 - 일반적으로 이전 세대의 제품은 아주 간단한 직렬 입출력이나 병렬 입출력을 가지고

있었음

- 새로운 기능이 추가되면서 내부 레지스터 맵을 통해 이 기능이 컨트롤됨

- ‘전기 퓨즈’나 ‘일회용 프로그래머블 메모리’의 도움을 받아 전기적 정돈이 구현됨 - 어떤 제품은 심지어 외부 모드 핀을 통해 컨트롤 되는 다양한 인터페이스를 구현하고 있음 - BiCMOS 프로세스는 뛰어난 양극 트랜지스터를 가지고 있으며 증폭기 및 레퍼런스 설

계에서 중요한 역할을 함

- 이러한 프로세스는 기판에서 p-well 구역을 절연시키는 매몰식 n-레이어가 필요함 - 부작용은 이렇게 절연된 p-well 구역이 기판으로부터 NCH 트랜지스터의 대부분을 절

연시키는데 사용됨

- 이런 식으로 기판은 디지털 회로의 잡음으로부터 분리시킬 수 있으며, 민감한 아날로그 회로는 일반 기판의 잡음으로부터 분리시킬 수 있음

- 듀얼 게이트 프로세스를 통해 구현되는 고전압 트랜지스터는 드레인과 소스 사이는 물 론 게이트와 소스 사이에서도 36V를 적용시킬 수 있음

- 차세대 고전압 ADC 같은 흥미로운 제품에서 고전압 트랜지스터와 저전압 트랜지스터 를 혼합하여 사용할 수 있음

o 차세대 고전압 ADC

- 5V ADC가 매우 뛰어난 잡음 성능을 발휘한다 하더라도, 산업용 프로세스 컨트롤에서 는 선호되지 않음

- 이것은 까다로운 환경에서의 신호 조절에 필요한 견고한 아날로그 프론트 엔드도 요구 하기 때문에 저잡음 컨버터를 갖기에는 무리가 있음

- ±10V의 입력 신호는, 단일 5V 시스템과 비교했을 때 자동으로 4 배 더 견고해짐 - 따라서 고전압 ADC는 여전히 중요한 관심사임

- 신세대 고전압 ADC는 새로운 프로세스 부품의 혜택을 볼 수 있음

- 두 가지 접근방식이 있으며, 하나는 드리프트가 및 전압 계수가 낮은 레지스터를 사용 하는 것임

- 이것은 ±10V 입력 신호를 내부적으로 0V~5V 범위까지로 나누어 고르게 변환할 수 있음 - 이 신호는 낮은 전압 트랜지스터가 갖는 속도, 잡음, 전력 등에서의 장점을 그대로 유

지한 채 5V 트랜지스터에서 처리될 수 있음

- 이러한 구현에는 두 가지 단점이 있으며 첫째는 입력 신호로부터 연속 전류가 강제된 다는 것임

- 따라서 높은 임피던스 입력 소스는 게인 오류를 발생시키게 됨 이 전류를 낮게 유지하

려면, 내부 저항이 높아야 함

(17)

- 이로 인해 ADC 입력의 대역폭은 제한됨

- 이것은 자동으로 좀 더 긴 샘플링 시간을 요구하게 되고, 그로 인해 전환률은 낮아지게 됨 - 두 번째 방식의 경우, 고전압 입력 신호는 고전압 트랜지스터를 통해 샘플 커패시터에

서 직접 샘플링됨

- 그런 다음 이 신호는 SAR ADC의 용량성 DAC를 통해 나뉘게 된다. 이 구성에도 역 시 약간의 단점이 있음

- 커패시터의 전압 계수가 아주 뛰어나더라도, ADC의 통합 선형(integral linearity)에 영 향을 미치게 됨

- 높은 전압일 때, 2차 방정식 전압 계수에서 특히 더 그러하다. 10V 신호가 커패시터에 저장되고 2차 방정식 전압 계수가 1ppm/V2 가량인 경우, 샘플 커패시터의 변화는 중 간부근이 아닌 엔드포인트에서 100ppm이다. 통합 비선형(integral non-linearity)은 몇 개의 LSB에 도달함

- 두 번째 단점은 고전압 입력 스위치의 높은 온-저항 Ron과 높은 패러시틱 커패시턴스 Csw에 의해 발생함

- 둘 다 입력전압과 관련이 있는 비선형을 띠고 있고 이들은 DC 성능에는 영향을 미치 지 않지만, 입력전압에 의존하는 샘플 회로의 Ron•(Csw+Cs) 딜레이 때문에 AC 신호 는 왜곡을 통해 영향을 받음

2. 개발 대상 기술ㆍ제품의 중요성과 필요성

o 기존 광 중계기의 전송 방식은 데이터 신호 변환에서 6㎲이상의 지연시간을 갖고 있어 고속 데이터 전송 및 신호 변환에 제한을 받고 있으므로 이를 직접 변환 방식을 이용하 여 데이터 신호 변환 시 지연시간을 2㎲ 이내로 줄이는 새로운 기술의 개발이 요구됨 o 이동통신 LTE, LTE advanced 등의 서비스 전송망 구축에 필요한 신호변환 부품 핵심

기술에 전문 기술력을 갖춘 중소기업의 참여로 동반성장 가능성

o 신호변환 단계에서 지연시간을 획기적으로 줄일 수 있는 기술을 적용한 새로운 고속 데 이터 전송 기술의 확보해야함

가. 기술적 측면

o 스마트폰의 보급, 클라우드 서비스 도입 등으로 네트워크에서의 대역폭 확장 요구가 끊 임없이 요구되고 있어 광 전송망 장치에 대한 기술적 향상이 필요함

o 이로 인해 기반망인 광 전송망에서 처리할 수 있는 정보량의 한계가 드러나고 있어 기 존 광 전송망의 기술적인 변화가 필요함

o 기존의 광 전송망보다 많은 데이터양을 처리하면서 처리 속도의 향상까지 필요하게 됨 으로써 광전송장치에 대한 기술 향상이 필요함

나. 경제적․산업적 측면

o 기존의 광 전송망 산업은 2000년대에 들어서면서부터 초고속 인터넷망 가입자가 포화상태

(18)

대역폭 소요가 증가하여 다시 호황기에 접어들고 있어 광 전송망에 대한 추가 투자가 필 요함

o 중국, 인도등의 국가에서 광통신망 인프라를 구축하기 시작하면서 새로운 대형시장으로 떠오르게 되어 광 전송망 기반 산업의 수요가 폭발적으로 증가하게되어 광 전송망 산업 의 수출증대가 기대됨으로 이에 따른 투자가 필요함

o 광 전송망 산업의 국제 경쟁력을 갖춤으로 인해 주요 수출산업으로 발전시킬 수 있으며 일 자리 창출과 수출 증대효과를 동시에 얻을 수 있으므로 적극적인 투자와 기술개발이 필요 함

다. 사회적 측면

o 사회 기반 시설 및 생활 환경이 네트워크망으로 구축되어지는 추세임으로 광 전송망산 업의 기술적 향상과 시설증대로 인해 기반시설 및 생활 환경의 변화를 가져오게될 것으 로 예상하고 있으며 실제 기술한 내용과 같은 추세로 이어지고 있음

o 광 전송망 산업은 정보화사회 구축에 있어 가장 큰 기반이 되는 산업이며 이에대한 활 발한 투자와 기술개발이 이루어져야 정보화사회를 더욱 더 앞당길 수 있음

제 2 절 기술개발 시 예상되는 기술적 경제적 파급효과

1. 기술적 파급효과

o 스마트폰 보급과 클라우드 서비스 도입 등으로 인해 네트워크 대역폭 확장 요구가 증가 하면서 전송망의 속도개선 및 증설이 요구됨에 따라 더욱 우수한 광대역망을 실현하여 사회기반 통신망 확충

o 3㎲이내의 신호 지연시간 구현

o PCB 복잡도를 간소화하여 제품 크기 감소 전기효율 증가 o 광 및 UTP 전송망에 모두 활용 가능

2. 경제적 파급효과

o 모듈 설계의 간소화로 생산 단가 및 공급 원가 절감 o 전기효율 증가로 전력사용량 감소

o 국가 정보통신망 예산 절감

o 기술개발로 인한 고용창출

o 정보통신망 고속화

(19)

제 1 절 최종 목표 및 평가 방법

1. 기술개발 최종목표

그림 2-1. Direct ADC 개발 최종 목표

o 본 개발기술의 최종목표는 지연시간이 3㎲이내인 고속 데이터 광 전송용 ADC(아날로그

→디지털)의 개발에 있음

o 본 과제에서 개발하고자 하는 광전송용 ADC 장치는 기존의 방식과 다르게 신호를 직접 변환 하는 방식을 이용하여 신호의 변환과정에서 발생하는 지연시간을 최소화할 수 있 는 장치로 고속데이터 전송 시 ADC의 신호변환 과정에서 발생하는 지연시간으로 인해 발생되는 데이터의 동기손실을 최소화 할 수 있음

o LTE 서비스망에 사용되는 인 빌딩용 광 및 UTP Cable망 구축에 적용 가능한 다음의 특성을 만족하도록 개발함

o 광 전송장치는 전기신호를 광신호로 변환하는 발광기(송신기), 광신호를 전달하는 광섬 유 케이블, 광신호를 전송 도중에 증폭하는 중계기, 전해진 광신호를 전기신호로 변환하 는 수광기(수신기)로 구성되는 일련의 광통신 시스템임

o 본 과제에서 개발하고자 하는 Direct ADC는 직접 변환 방식을 사용하여 3㎲이내의 시 간지연을 갖는 새로운 개념의 ADC/DAC장치로서 LTE, WCDMA 전송방식에서 고속 데이터 전송이 가능하도록 하는 시스템임

- 광전송을 위한 Direct ADC 개발함

(20)

o ADC 구성과 비교

- 기존의 ADC는 그림 5과 같이 복잡한 회로 구성으로 신호의 가공 시 자체 회로의 부품 들에 의한 지연시간이 많아짐

- 기존의 ADC는 양자화 과정으로 데이터가 확산되어 전송데이터가 많아짐

- 개발하고자 하는 ADC는 회로 구성이 간단하고 직접변환 방식을 사용하여 전송 데이터 의 확장 없이 원래의 데이터 용량으로 전송이 가능함

- 개발하고자 하는 ADC는 사용되는 부품이 적어 지연시간을 최소화 할 수 있음

그림 2-2. 기존 ADC 회로구성 PCB

2. 기술개발 평가방법

표 2-1. 정량적 목표 항목

평가항목 (주요성능

Spec1)

단위

전체항목 에서 차지하는

비중) (%)

세계최고 수준 보유국/

보유기업 ( / )

연구개발 국내수준

개발 목표치

평가방법3)

성능수준 성능수준 1차

년도

1. 지연시간 20 4 ~ 6 ㎲ 4 ~ 6 ㎲ 3㎲, max Network 2. EVM % 20 2 ~ 3 % 3 % 3%, max Spectrum PSA

3. 소모전력 A 15 1 ~ 2 2 1, max DVM

4. 전송대역 MHz 15 30 30 30 Spectrum PSA

5. SNR dB 15 30 30 30 Spectrum PSA

6. UTP전송 m 15 50 ~ 80 50 ~ 80 80 min Spectrum PSA

(21)

제 2 절 연차별 개발 내용 및 개발범위

1. 1차년도 개발 내용 및 개발범위

o 고속 포락선 검출기 개발

- 입력 신호 대역폭의 크기에 따라 중심 주파수를 가변하여 포락선 검출을 하는 모듈 개발 - 유전체 BPF를 이용하여 대역을 경정하며 출력 레벨을 0dbm으로 고정 출력 할 수 있

는 광대역AGC 모듈 개발

- 개발되는 고속 포락선 검출기는 입력되는 아날로그 신호를 주파수 영역에서 다중으로 포락선을검출하여 데이터를 검출하며 검출된 데이터는 디지털 변환을 위해 Slice limit 기에 입력됨

그림 2-3. 포락선 검출 개념도

그림 2-4. 주파수 응답시간

- BPF는 유전체로 구현되며 구동 앰프는 AGC회로가 적용되어 Envelopedet을 안정적으

로 할 수 있게 동작하게 됨

(22)

표 2-2. Direct ADC 개발 평가 항목

항목 특성 비고

주파수 대역 50 ~ 200 MHz

2. 입력 레벨 -20 ~ 0 dB

3. AGC range 30 dB

4. EVM <2 %

o Slice limiting 개발

- 입력된 아날로그 신호의 최고점 레벨과 최저점 레벨을 4단계로 분할하여 limiting 하며, 4단계 각각의 limiting된 신호의 데이터 값을 분석하여 디지털변환 limiting 기준점을 설정함

그림 2-5. Sampling diagram

(23)

그림 2-6. Digital data

o 제어보드 개발

- Slice limit의 기준 레벨을 설정하며, limiting된 데이터의 데이터 Rata을 분석하여 limiting준위를 변화시킴

그림 2-7. 개발 ADC 보드의 예

(24)

제 1 절 연구개발 결과

1. 연차 연구개발 추진 일정

o 1차년도 추진 일정

(25)

2. 연차 연구개발 추진 실적

o Direct ADC 개발 완료

그림 3-1. ADC 최초 시제품

그림 3-2. ADC 최종 시제품

(26)

o 지연시간 : ADC의 지연시간 측정은 Digital Scope로 입력단의 아날로그 동기점을 기준으로 하여 최종 ADC된 Digital 신호의 동기점을 비교 측정하여 ADC의 지연시간을 측정 하였음 o 사용된 Digital Scope는 4채널 500MHz Test Range를 갖는 장비임

그림 3-3. 지연시간 신호 파형

그림 3-4. 지연시간 측정

o EVM : EVM측정은 2차년도 DAC 개발후 측정 예정임

o 소모 전력 : 소모 전력은 5V 200mA정도 소모됨

(27)

그림 3-5. ADC 소모 전력 측정

o 전송 대역 : 2차년도 DAC 개발후 측정 예정임

o SNR 측정 : 2차년도 DAC 개발후 측정 예정임

o UTP Cable 전송 : 2차년도 DAC 개발후 측정 예정임

(28)

3. 각 기관/기업별 추진 내역

그림 3-6. 광 전송용 ADC/DAC 개발을 위한 추진체계도

o 주관기관인 (주)알윈과 위탁기관인 상지대학교와 협력하여 주요 기술개발 및 설계를 주 관기관에서 담당하고 위탁기관에서는 시제품 PCB 설계 및 제작과 조립시험 및 환경시 험을 시행하였음

o 특히 조립시험 및 환경시험은 객관적 평가를 위하여 주관기관과 위탁기관에서 동일한 조건으로 동시에 시행함

o 차후 2차년도 기술개발 과정에서도 1차년도 개발과 동일하게 시제품 PCB 설계, 조립시

험, 환경시험을 시행하며, 최종 ADC/DAC 연동시험 및 광 전송망과 UTP 전송망 연결

시험을 시행할 예정임

(29)

4. 기술개발 결과의 유형 및 무형 성과 전체를 기재

가. 국내․외 ADC 현황 및 기술 조사 분석

(1) 국내․외 ADC 현황

o 리니어 테크놀로지는 저전력 16비트의 20Msps ADC(analog-to-digital converter) 3종 LTC2269, LTC2270, LTC2271을 개발하였으며 개발품들은 매우 정밀한 DC 측정을 위 해 최저 입력 리퍼 잡음과 강력한 INL(Integral Non-Linearity) 성능을 제공함

그림 3-7. LTC2269 블록도

(30)

그림 3-8. LTC2269 INL

o LTC2269 및 LTC2270은 단일 채널 및 2채널을 동시에 샘플링 병렬 가능한 ADC 제품

들로, 각각 전속력 CMOS 선택이나 DDR(double data rate) CMOS/LVDS 디지털 출력

을 프로그램 가능한 디지털 출력 타이밍, 프로그램 가능한 LVDS 출력 전류, 선택형

LVDS 출력 단말 기능들이 함께 제공하며, LTC2271은 2채널 동시 샘플링 ADC 제품으

로 직렬 LVDS 출력 성능을 제공됨

(31)

그림 3-9. LTC2270 Pin 블록도

(32)

o 이 디바이스들은 베이스밴드에서 84dB SNR(signal-to-noise ratio) 성능과 99dB의 SFDR을 달성하며, 높은 AC 성능과 저잡음은 잘 설계된 2.1Vp-p 프론트 엔드를 사용 해 달성되어, ADC 드라이버 회로가 요구하는 전력을 상당히 낮춰주는 특징이 있음

그림 3-10. 리니어의 저전력 16비트의 20Msps ADC

o 리니어 테크놀로지 코리아는 사이클지연이 없는 최고속 18비트 SAR ADC ; LTC2389-18를 개발하였음

그림 3-11. LTC2389-18 Typical application

o LTC2389-18은 최대 2.5Msps의 샘플 속도에서 99.8dB SNR 및 -116dB THD와 같은 우

수한 성능을 제공한다. 단일 5V 공급 전압에서 동작하는 LTC2389-18은 3개 핀 구성변

경이 가능한 아날로그 입력 범위를 지원함으로써 단일 디바이스로 쉽게 다중 신호 체인

에 인터페이싱이 가능함

(33)

o ±3LSB INL(최대), ±10LSB 오프셋 에러 및 18비트 무손실 코드 해상도와 같은 월등한 DC 성능을 제공하며, LTC2389-18은 또한 온도 계수가 20ppm/°C(최대)인 4.096V 정밀 내부 레퍼런스가 특징으로, 고밀도 설계에서 공간을 절약할 수 있도록 함

o LTC2389-18은 2.5Msps에서 162.5mW의 전력을 소모하고, 비 변환 시 전력소모량을 75 μ W까지 줄일 수 있는 셧다운 모드가 특징이며, 진정한 무지연 동작 특징을 통해 긴 휴 지 기간 후에도 최소 샘플 속도 요건 없이 정확한 원샷 측정이 가능함

그림 3-12. 18비트 2.5Msps SAR ADC

o ETRI는 130nm~65nm 의 CMOS 공정을 이용해서 10bit~12bit 수십MHz~400MHz의 속도 로 동작하는 신호변환기(ADC/DAC) 등 50여종의 아날로그 IP를 개발하여 상용화 기술 을 개발하고 있음

o 이러한 기술중의 일환으로 혼성모드 SoC 구현에 필수적으로 요구되는 신호변환기 및 클럭발생기 IP 기술 및 관련 고속/저전압/저전력 혼성모드 회로설계 기술을 개발함 o 개발된 기술의 특징은 신호변환기 및 클럭발생기 관련 아날로그 회로 구현기술로 1.0V

수준의 저전압 동작 기술, 기존 동일사양 기술 대비 10% 이상 낮은 전력소모 되며, 기 존 동일사양 기술 대비 15% 이상 작은 소요 면적, 차세대 HDTV/3DTV 및 고속 유/무 선통신 시스템 신호처리용 혼성모드 SoC 적용할 수 있는 특징이 있음

o 45nm CMOS 공정으로 설계된 아날로그 IP 4종 변환기로 10bit 200MSps 아날로그-디

지털 신호변환기와 12bit 80MSps 아날로그-디지털 신호변환기 및 45nm 12bit 200MSps

CMOS DAC 디지털-아날로그 신호변환기를 개발하였으며, 아날로그 디지털 신호변환기

는 구조/도면배치/성능측정방법 및 측정데이터 처리기술 단위블럭 회로기술 (단위 ADC

(34)

그림 3-13. ETRI의 10bit 200Msps ADC 회로 구조

o 인터실의 ISLA112P50은 500MSPS 샘플링 데이터전송률을 달성하기 위해 타임-인터리

브드250MSPS A/D유닛 한 쌍을 사용함

(35)

o ISLA112P50은 오프셋과 게인 그리고 A/D유닛 사이의 샘플타임 왜곡을 자동으로 미세 조정하는 자사의 특허 기술인 Intersil Interleave Engine (I2E) 기술을 적용하여 제품의 고성능을 보장함

그림 3-15. ISLA112P50 LVDS and CMOS timing diagram

o Texas Instruments의 ADS6425는 직렬 LVDS 인터페이스를 내장한 차세대 멀티채널의 예로, 125MSPS의 최대 샘플링 속도를 보이는 4채널 12비트 ADC이며, 80∼125MSPS 의 샘플링 속도를 제공하는 듀얼 및 쿼드, 12 및 14비트 ADC의 핀 호환이 가능한 최초 의 제품군임

그림 3-16. Texas Instruments ADS6425

(36)

o 직렬 LVDS 인터페이스를 사용하면 I/O 수와 패키지 크기가 감소하므로 이 디바이스를 9×9mm의 소형 64핀 QFN 패키지에 탑재할 수 있다는 이점이 있다. 또한, 인터페이스는 다른 직렬 인터페이스 방법들과 비교하여 인터페이스 구현에 따르는 낮은 오버헤드와 최소 소비전력 측면에 있어서 더욱 우수함

그림 3-17. TI의 4채널 12비트 ADC

o 미국의 아날로그디바이스는 빠른 속도와 높은 정확도가 특징인 이 컴팩트하고 경제적이

며 기능적으로 유연한 신제품은 통신, 계장, 테스트 및 계측 어플리케이션에 효과적인

새로운 싱글 및 듀얼 채널 14비트 고속 A/D 컨버터 : AD9648을 개발하였음

(37)

그림 3-18. AD9648 CMOS 출력모드 타이밍 다이어그램

o 우수한성능을 지원하면서 크기도 작아 CDMA2000, W-CDMA, LTE, TD-SCDMA, 멀 티 캐리어 GSM 같은 최신 3G 및 4G 표준 셀룰러 인프라 장비에 매우 이상적임

그림 3-19. AD9648 블록 다이어그램

o IF 샘플링 주파수가 최대 200MHz이므로 멀티모드 디지털 수신기 제작에 사용할 듀얼

고속 A/D 컨버터를 필요로 하는 디자이너에게 적합하며, ADI의 다른 여러 16, 14, 12

및 10비트 A/D 컨버터와 핀 호환이 가능해 20MSPS ~ 125MSPS의 샘플링레이트를 갖

는 10비트 컨버터부터 16비트 컨버터까지 손쉽게 마이그레이션이 가능한 특징이 있음

o 또한 아날로그디바이스에서 개발된 14비트 A/D 싱글채널 컨버터인 AD9642는 작은 크

(38)

기로 최대 350MHz의 IF 샘플링 주파수를 지원하는 AD9642는 보드 공간을 절감하고 최대 125MHz의 폭넓은 대역폭을 지원함

그림 3-20. AD9648 Parallel CMOS pin configuration

o 신호 변환 시 72.2dBFS의 신호 대 잡음비(SNR: Signal-to-Noise Ratio)와 90dBc의 SFDR 성능을 제공하며, 전력소비는 250MSPS일 때 360mW에 불과할 정도로 매우 적 은 특징이 있음

그림 3-21. 아날로그디바이스의 AD9648, AD9642

(39)

(2) 기술 조사 분석

□ AN1405/D

o ECL 클럭(clock) 분배 기법 o skew 정의

- 논리 장치에 의해 도입되는 skew는 다음과 같은 세 부분으로 분리될 수 있음 (1) 작동 주기(duty cycle) skew

(2) output-to-output skew

(3) part-to-part skew. 어플리케이션에 따라 이러한 세 요소의 각 부분이 동일하게 또 는 서로 다르게 중요할 수 있음

o 작동 주기(duty cycle) skew

- 작동 주기 skew는 TPLH와 TPHL 전파 지연간의 차이의 측정치임 (그림3-22)

- TPLH와 TPHL의 차이는 펄스 폭의 왜곡으로 이어질 것이며 이 때 작동 주기 skew가 때로는 펄스 skew로도 불리움

- 작동 주기 skew는 두 edge에서 타이밍 작업이 동시에 발생하는 어플리케이션에서 또 는 클럭 신호의 작동 주기가 절대적인 경우에 중요함

- 후자는 첨단 마이크로프로세서의 클럭 입력을 구동할 때의 공통된 요건임

그림 3-22. 작동 주기(duty cycle) skew

o output-to-output skew

- output-to-output skew는 한 장치의 모든 output의 전파 지연간의 차이로 정의됨 - 이 측정치에서의 주요 제한요인은 output 전이(transition)가 동일해야 한다는 요건이기

때문에 만일 장치에서 생산되는 모든 edge간의 skew가 중요하다면, 시스템 전체의

(40)

할 것임

- 일반적으로 output-to-output skew는 TTL과 CMOS 장치에서는 동작 주기 skew보다 더 작을 것임

- 여러 ECL 장치의 거의 0에 가까운 동작 주기 skew로 인해, output-to-output skew는 일반적으로 더 클 것임

- output-to-output skew는 단일 장치가 필요한 클럭 모두를 제공할 수 있는 시스템에서 또는 nested 클럭 분배 tree의 1차 수준 장치에서 중요함

- 이러한 두 상황에서 중요성의 유일한 변수는 해당 die의 다른 output 대비 각 output의 상대적 위치할 것임

- 이러한 output들은 모두 동일한 환경과 과정 조건을 접하게 될 것이기 때문에 skew는 표준 장치 데이터 sheet에 명시된 전파 지연 범위보다 훨씬 더 낮을 것임

그림 3-23. output-to-output skew

o part-to-part skew

- part-to-part skew는 장치에서 최소화하기에 가장 어려운 성능 재원임

- part-to-part skew는 처리의 차이 그리고 환경의 차이에 좌우되기 때문에 그로 인해 나타나는 재원은 skew의 다른 두 성분들보다 유의하게 더 큼

- 공급자는 대개 불변하는 환경 조건을 바탕으로 part-to-part skew 재원의 부분집합을 제공할 것임

- 명시된 제한이 보장되는 조건을 완전히 이해하기 위해서는 데이터 sheet를 주의 깊게 읽어야 함

- 만일 part-to-part skew가 명시되었고 장치에 대해 명시된 전파 지연 범위와 다르다면,

part-to-part skew 재원에 대한 제약이 있다고 확신할 수 있음

(41)

- 전원공급과 온도의 차이가 실리콘 장치의 전파 지연의 변화에 대한 주요 기여 요인임 - 이러한 두 변수에 대한 제한요인은 일반적으로 part-to-part skew 재원에서 확인됨 - 전원공급에서의 차이가 무시될 수 있는 상황이 있기는 하지만, 그 장치가 모두 동일한

온도 조건에 있는 현실적 시스템은 불가능함

- 캐비넷이나 보드 위의 hot spot, 공기 흐름의 중단, 보드의 IC 밀도에서의 차이 모두가 시스템 내의 온도 구배로 이어짐

- 이러한 열구배는 시스템의 다양한 부분의 장치들이 각기 다른 결합 온도 조건에 있을 것임을 의미함

- 설계자가 제품의 전체 온도 범위를 필요로 할 가능성은 없지만, 이 범위의 일부분에 대 한 고려가 필요함

- 전파 지연의 온도 계수가 상대적으로 크다면 단일 온도에 대해 명시된 part-to-part skew는 거의 효용 가치가 없음

- 클럭 분배 네트워크가 (전력과 ground plane을 이용하는) 단일 보드 위에 놓이는 설계 에 대해서는, 전원의 불변이라는 가정이 타당한 가정일 것이며, 단일 전원에 대한 재원 의 제한이 가치를 가짐

- 전체 분배 tree의 다양한 조각들이 한 시스템 내의 서로 다른 보드에 위치한다면, 각 장치는 서로 다른 전원 공급 수준을 경험할 가능성이 높음

- 이 경우에 고정 Vcc에 대한 재원의 제한은 시스템 설계에 부적절할 것임

- 이상적으로는 클럭 분배 장치에 대한 데이터 sheet에는 설계자로 하여금 장치의 skew 재 원을 그 어플리케이션의 환경에 적합하게 조정할 수 있게 해 주는 정보가 포함되어야 함

□ ECL의 시스템

o skew 감소

- ECL 장치는 TTL이나 CMOS 경쟁 장치에 비해 skew의 모든 성분에서 더 우수한 성 과를 제공함

- 모든 skew 변수에 공통적인 skew 감소 메커니즘은 ECL 장치의 더욱 빠른 전파 지연임 - 어느 정도는 모든 skew가 일반적인 지연의 일부분을 의미하기 때문에 더욱 빠른 지연

은 일반적으로 더 낮은 skew를 의미함

- ECL 장치 특히 클럭 분배 장치는 single-ended 방식 또는 차별(differential) 방식에서 운영될 수 있음

- 이러한 장치의 skew 를 최소화하기 위해서는 차별적 운영 방식이 이용되어야 하지만

single-ended 방식에서도 skew 성과는 CMOS나 TTL 장치에서보다는 훨씬 더 우수할 것임

(42)

그림 3-24. VBB 유도 작동 주기 skew

- ECL output 버퍼는 원천적으로 TPLH와 TPHL 지연간의 매우 적은 차이만을 보여줌 - 그 차이는 주로, 이상적이라면 input swing을 중앙으로 하지 않는 switching 참조 수준

에 의한 것임 (그림 3-24 참조)

- 최악의 switching 참조 수준의 경우에 ECL 장치의 펄스 skew는 여전히 300ps 미만임 - 만일 ECL 장치가 차별적으로 이용된다면 switching 참조가 이용되지 않아서 그 편차

가 작동 주기 skew에 영향을 미치지 않음

- 이 경우에 pulse skew는 50ps 미만일 것이며 일반적으로 고성능 설계를 제외한 모든 경우에서 무시됨

- 만일 차별적 ECL 호환 가능 클럭 input이 이용된다면 최첨단 마이크로프로세서의 작 동 주기 요건을 충족시키는 역량을 가진 클럭의 생성 문제는 사소함

- 다른 한편으로 TTL과 CMOS 클럭 드라이버들은 중심이 아닌 switching 역치와 관련 된 문제 이외에도 TPLH와 TPHL 지연간에 내재하는 차이를 가짐

- 이 변수를 최소화하기 위해 측수하게 고안된 장치에서는 1ns 미만 이외에는 어떤 것도 보장되지 않음

- output-to-output skew에 대한 기여자는 IC의 배치 및 패키지 선택임

- 내부 경로와 패키지를 통하는 경로에서의 차이는 die 수준에서 이용되는 실리콘 기술 과 무관하게 최소화될 수 있기 때문에 ECL 장치의 우위는 이 영역에서는 다른 skew 변수들에 비해 다소 약화됨

- CMOS와 TTL output 성능은 전원 수준 및 chip 내의 정력 bus의 안정성과 밀접하게 관련됨

- 클럭 분재 tree는 그 정의상 언제나 동시에 변화하기 때문에 내부 전력 bus에 상당한 교란을 발생시킴

- TTL과 CMOS 클럭 분재 장치에서는 이 문제를 경감시키기 위해 다중 전력 및 ground pin들이 활용됨

- 그러나 이 전략을 이용할 때에도 ttl과 CMOS 클럭 분배 장치는 500-700ps

(43)

output-to-output skew 보장으로 제한됨

- 차별적 ECL output에서는 매우 적은 노이즈만이 생성되어 내부 전원공급과 결합됨 - output 버퍼의 더 빠른 전파 지연과 결합되어 ECL 클럭 chip에서 50ps만큼 낮은

output-to-output skew를 생산함

- ECL 클럭 장치의 두 측면은 CMOS와 TTL 경쟁자보다 유의하게 더 낮은 part-to-part skew로 이어짐

- 즉 더 빠른 전파는 환경의 변화에 대해 민감하지 않게 지연됨

- 프로세스에 따른 전파 지연의 차이는 일반적으로 장치의 일반적인 지연의 전파를 바탕 으로 함

- 이 전파가 ECL, TTL, CMOS 프로세스 간에 거의 동일하다고 가정한다면 장치가 더 빠를수록 지연의 차이는 더 작아짐

- 최신 ECL 장치는 TTL과 CMOS 장치보다 최소한 5배 더 빠르기 때문에 예상되는 지 연의 편차는 CMOS와 TTL 장치 편차의 약 1/5임

- ECL 장치의 전파 지연은 전원 공급 편차의 영향을 받지 않는 반면 CMOS와 TTL 장 치 전파 지연은 많은 영향을 받음

- 전체 온도 범위에서 모든 기술에 대한 편차 비율(%)이 유사하지만, 여기에서도 ECL의 더 빠른 전파 지연은 편차의 강도를 감소시킬 것임 (그림 3-25)는 3개 기술에 대한 정 규화된 전파 지연 vs 온도와 전원의 그래프를 보여줌

그림 3-25. TPD vs 환경 조건 비교

o 저임피던스 line driving

- 오늘날 시스템의 클럭 요건은 통제되는 임피던스 접속의 거의 배타적인 이용을 필수적 으로 만듦

- 과거에는 이 요건이 ECL 기술과 상관관계를 가지는 성과 수준 고유의 것이었으며 실 제로는 최고 성능의 시스템을 제외한 모든 시스템에서 이 이용이 배제되었음

- 그러나 고성능의 CMOS와 TTL 클럭 분산 chip은 현재 그 성능의 최적화를 위해서

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ECL로의 이동을 단순화시킴

- 실제로, 통제되는 임피던스 환경에서 이러한 “지연” 기술을 이용한 설계와 관련된 어려 움은 이상적으로 과제에 적합하기만 한다면 ECL 장치 이용의 잠재력을 강화시키기조 차 함

- ECL 장치의 저임피던스 output과 고임피던스 input은 50Ω부터 130Ω까지의 통제된 임 피던스 전송선을 구동하기에 이상적임

- ECL의 명시된 구동 임피던스는 50Ω이지만 이 값이 이용되는 이유는 가장 널리 이용되 는 측정 장비의 임피던스가 50Ω이기 때문에 편의를 위함임

- 더 높은 임피던스 라인의 활용은 종단 저항(termination resistor)에 의한 분산되는 전 력을 감소시킬 것이며 그렇기 때문에 전력 민감 설계에서 고려되어야 함

- 더 높은 임피던스라인의 주요 단점은 낮은 skew 클럭 분배 서계에서 일반적으로 이용 되는 상호접속 체계에서는 중요한 문제가 아닐 수도 있음

o 차별적 상호접속

- 차별적 ECL의 장치 skew 최소화 측면은 이미 논의되었지만 짚고 넘어가야 하는 다른 시스템 수준의 장점이 있음

- 클럭 라인이 line의 손실을 장거리에 걸쳐 분배하면, 전원 공급에서의 편차는 input 전 압과 switching 역치간의 이상적인 관계를 교란시킴

- 차별적 상호접속은 전원으로부터 부하까지 switching 역치 정보를 수반하기 때문에 이 둘간의 관계는 변화될 가능성이 낮음

- 여기에 추가적으로, 긴 line에 대해서는 ECL 장치의 더 작은 동요가 인접 line들간의 훨씬 더 낮은 수준의 누화(crosstalk)를 생산하고 PC 보드로부터의 EMIq 방사를 최소 화시킴

그림 3-26. 180° 이동 2상 클럭

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- 완전한 차별적 ECL과 관련된 비용이 있으며, 동일한 기능에 대해서 더욱 많은 pin이 필요하고 이미 밀도가 높은 PC 보드에서 더욱 많은 상호접속이 갖추어져야 함

- 첫 번째 문제는 클럭 분배 장치에서는 전혀 문제가 되지 않음

- output-to-output skew와 동작 주기 skew는 조용한(quiet) 내부 전원 공급에 훨씬 더 의존적임

- 따라서 보완적 output을 위해 손실된 pin들은 그렇지 않았다면 전원공급 pin으로 이용 되었어야 하기 때문에, 차별적 장치에서는 역함수 또한 가용하기 때문에 동일한 pin의 수에 대해서도 기능성이 실제로 기획됨

- 역신호의 존재는 클럭이 positive edge와 negative edge 모두와 연결되지 않는 설계에 서는 아무 가치가 없을 수 있음 (그림 3-26)은 매우 낮은 skew(50ps 미만)를 획득하는 방법 즉, 180° 이동 2상 클럭을 보여줌

- 차별적 상호접속은 PC 보드에서 더욱 많은 신호의 라우팅을 필요로 함

- 다행히도, 현재의 더욱 방대한 데이터와 어드레스 bus를 이용하는 설계에서 클럭 line 은 전체 상호접속에서 차지하는 비중이 더 적음

- 차별적 상호접속을 이용할지의 여부에 대한 최종 선택은 설계에 필요한 skew 성능의 수준에 좌우됨

- single-ended ECL이 차별적 ECL보다 덜 매력적인 skew 성능을 제공하지만 대응되는 CMOS와 TTL 기능보다는 더욱 우수한 성능을 제공한다는 점에 유의해야 함

- 지금까지 제시된 클럭 분배로 ECL의 우위를 주장하기는 어렵지만, 최소한 모든 ECL 설계를 제외한 상태에서, 분배 tree에 ECL 장치를 포함시키는 데에는 많은 비용이 소 요될 수도 있다고는 주장할 수 있음

- 이 주장은 최소한 2개의 여분의 전원 공급 즉 negative VEE 공급과 negative VTT 종 단 전압이 필요하다는 가정을 바탕으로 함

- PECL(positive eCL)은 negative 전원공급보다는 positive 전원공급을 가진 eCL 장치 이용을 기술하는 약어임

- 모든 ECL 장치 또한 PECL 장치임

- +5볼트 전원공급에서 ECL 장치를 PECL 장치로 이용함으로써 그리고 별개의 종단 전

압을 필요로 하지 않는 종단 기법을 통합함으로써, ECL은 CMOS 또는 TL 설계에 추

가 비용 없이 도입될 수 있음

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그림 3-27. ICC/게이트 vs 주파수 비교

- negative 전원공급을 ECL의 표준으로 선택하는 이유는, output 수준과 내부 switching 편향성 수준 모두가 Vcc rail에 참조된다는 사실 때문임

- 전원공급을 이용하는 것보다는, 시스템 전체에서 ground를 좀 더 조용하고(quieter) 동 일한 포텐셜을 유지하는 것이 일반적으로 훨씬 더 용이함

- DC 변수들은 Vcc rail로 참조되기 때문에 Vcc에서 관찰되는 모든 교란이나 전압의 하 락은 output과 internal 참조 수준으로 1:1 해석될 것임

- 그렇기 때문에 두 보드간의 PECL을 이용한 커뮤니케이션에서는 차별적 상호접속만을 이용하도록 권장됨

- 차별적 상호접속을 이용함으로써 명시된 범위 내의 Vcc 편차는 어떤 식으로도 장치의 성능에 영향을 미치지 않을 것임

- 마지막으로, CMOS 설계자에게 ECL을 언급하는 것은, 그들이 ECL에 대해 가진 인식 은 고전력이기 때문에, 불가피하게 공간 heater의 vision을 상기시킴

- ECL의 정적 전력이 CMOS에 대해서보다 더 높기는 하지만 기술들 간의 동적 전력 (dynamic power) 차이는 주파수가 증가하면서 좁혀짐

- (그림 3-27)에서 볼 수 있듯이 20MHz만큼 낮은 주파수에서는 ECL의 게이트당 전압은 실제로 CMOS에서보다 더 낮음

- 클럭 분배 장치는 절대로 정적이 아니기 때문에 이 두 기술의 전력 분산을 정적 환경

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그림 3-28. ECL 클럭 분배 tree

□ 혼합된 신호 클럭 분배

o ECL 클럭 분배 네트워크

- ECL 시스템에서의 클럭 분배는 상대적으로 사소한 문제임

- (그림 3-28)은 6개의 각기 다른 card에서 9개의 각기 다른 ECL 클럭을 생산하는 2개 수준의 클럭 분재 tree를 보여줌

- ECLinPS E211장치는 card 각각을 개별적으로 비활성화시키는 유연성을 부여함

- 그 외에, 동시적 registered enable들은클럭이 이미 LOW 상태인 경우에만 장치를 기능 하지 않게 할 것이기 때문에, 비동시성 disable이 이용될 때에는 rent pulse의 생성 문 제를 피할 수 있음

- 이 장치는 또한 동일한 분배 tree 내에서 고속과 저속 시스템 클럭을 통합하기 위한 muxed 클럭 input을 제공함

- ECLinPS E111 장치는 backplane으로부터 신호를 전송받고 그것을 card에 분배하는 데 에 이용됨

- 이 상황에서 54개 클럭 모두간의 최악의 skew는 모든 부하와 신호 흔적이 동일하다는

가정 하에 275ps의 결과가 나옴

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그림 3-29 ECL에서 TTL로의 클럭 분배

o 혼합 기술 분배 네트워크

- TTL과 CMOS 시스템 내에서의 클럭 네트워크 구축에서는 가용한 대안이 더 많기 때 문에 조금 더 복잡할 수 있음

- 단순한 한 수준 분배 tree에 대해서는 MECL 10H6491:9 TTL과 같은 fanout 장치가 이용될 수 있음

- 그러나 fanout의 수가 증가함에 따라 다른 TTL 또는 CMOS 시스템에서의 ECL 장치 추가가 용이하게 됨

- (그림 3-29)에서는 E111 장치가 MECL H641 장치와 조합되어 81개의 TTL 수준 클럭 을 생산함

- 81개의 클럭들간의 skew 분석에서는 1.25ns라는 최악의 skew가 확인되어 온도 전체와 Vcc 범위의 편차를 가능케 함

- 이상적인 상황에서는 온도나 Vcc 공급에서의 어떤 편차도 없으며 skew는 단 750ps임 - TTL이나 CMOS 기술만을 이용하는 분배 tree와 비교했을 때, 이 수치들은 약 50%의

개선을 의미함

- 50MHz의 클럭에 대해서 81개 TTL 클럭들간의 skew 총합은 클럭 기간의 6.5% 미만 이기 때문에 설계자에게 layout을 위한 여분의 마진을 제공하는 것은 skew가 설계의 전체적 skew 예산을 충족시키도록 유도함

- 많은 설계자들은 ECL 클럭 분배 tree의 장점을 알고 있기 때문에 자신의 설계에서

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ECL을 이용함

- 역량이 되는 경우 즉 ASIC에서는 ECL 호환 쿨럭 input을 이용해 자신의 VLSI 회로를 구축함

- 마이크로프로세서 지원 chip과 메모리와 같은 다른 표준 VLSI나 회로들은 여전히 TTL 또는 CMOS 쿨럭 input에 의존함

- 그 결과 많은 시스템들은 동일 시스템 내에 ECL과 TTL 쿨럭 모두를 필요로 함

- (그림 3-29)의 상황과는 달리, ECL 수준들은 단지 중간 신호가 아니며 로직의 쿨럭 input을 구동함

- 그 결과, ECL edge들은 (그림 3-30)에서와 같이 TTL과의 일치가 필요함

그림 3-30. 혼합된 ECL과 TTL 분배

- ECL 클럭 드라이버는 TTL 또는 CMOS의 해당 기능보다 유의하게 더 빠를 것이다.

그러므로 (그림 3-30)의 ECL과 TTL 신호들을 de-skew하기 위해서는 ECL 장치의 input에 지연을 추가할 필요가 있음

- 동적 지연 조정은 그 자체가 대부분의 생산 기계에 적용되지는 못하기 때문에 정적지 연이 이용될 것임

- 지연 성분의 값은 두 전파 지연에서의 차이에 대한 최상의 추정치일 것임

- ECL 장치, TTL 장치, 지연 장치의 전파 지연의 온도 계수가 동일할 가능성은 거의 없음

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□ AN1406/D (PECL(+5.0V에서의 ECL)을 이용한 설계)

o ECL의 시스템 우위

- ECL을 CMOS/TTL 설계로 통합시켜야 하는 가장 분명한 영역은 매우 고속의 신호 처 리과정을 필요로 하는 하위 시스템에 대해서임

- 이것이 가장 분명하다고 하더라도, 또한 가장 일반적이지 않은 것일 수도 있음

- ECL과 CMOS/TTL 기술간의 전환 필요성으로 인해, 성능의 이득은 과거와 미래 기술 간의 전환에 필요한 간접비용보다 더 커야 함

- 기술 간의 전환을 위한 6-7ns의 일반적인 지연으로 인해, 로직의 상당한 부분에서는 ECL을 이용한 전체적인 시스템 성능의 개선이 필요함

- 그러나 초고속의 하위시스템 요건에 대해서는 ECL이 최상의 시스템 솔루션을 제공할 수도 있음

o 전송 line 구동

- ECL 장치의 내재적 특징 중 많은 수는 길고 통제되는 임피던스 라인의 구동을 이상적 으로 만듦

- open emitter의 낮은 임피던스와 모든 표준 ECL 장치의 높은 input 임피던스는 이 장 치를 통제되는 임피던스 라인 구동에 이상적으로 만듦

- ECL 장치는 50Ω 라인을 구동하도록 설계되었지만 장치의 AC 특징에서의 큰 변화 없 이 최대 130Ω까지의 임피던스 라인 구동에 이용될 수 있음

- 더 새로운 CMOS/TTL 장치들 중 일부는 50Ω 라인 구동능력을 가지고 있지만 많은 장치들은 낮은 임피던스 전송 상호접속을 구동하는 데에 필요한 전류를 공급하기 위한 특별한 드라이버 회로를 필요로 함

- 또한, 현재의 고성능 CMOS/TTL 장치들이 가진 큰 output의 변동 및 상대적으로 빠른 output 슬루율(slew rate)은 누화(crosstalk)와 EMI 방사의 문제를 악화시킴

- 차별적 상호접속을 이용하는 경우에는, 누화와 EMI의 문제느 노이즈 및 신호 증폭 손 실의 문제와 함께 상당히 완화될 수 있음

- CMOS와 TTL 장치들은 그 아키텍처로 인해 차별적 통신 능력을 가지지 못함

- ECL 장치의 차별적 증폭기 input 구조와 보완 output은 이 장치를 차별적 어플리케이 션에 완벽히 적절하도록 만듦

- 그 결과 상대적으로 거리가 먼 여러 보드간의 신호 전송을 필요로 하는 시스템에 있어 서, ECL 장치는 CMOS/TTL 설계자에게, EMI 방사와 누화를 최소화하면서도 신뢰성 있는 전송을 보장할 수 있는 수단을 제공함

- 그림 3-31은 ECL의 long line 구동과 높은 대역폭 역량이 활용될 수 있는 일반적인 어 플리케이션을 보여줌

- 데이터 처리의 대부분은 CMOS와 TTL 로직의 대역폭 용량과 동일한 클럭 주기를 가 지는 widw bit width words에서 이루어짐

- 이 때 병렬 데이터가 높은 대역폭 데이터 stream으로 순서화됨

수치

그림 1-3. 개발 DAC 장치의 구성도
그림 2-6. Digital data
그림 3-1. ADC 최초 시제품
그림 3-3. 지연시간 신호 파형
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참조

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