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■ 과잉 캐리어의 재결합율

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Academic year: 2022

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(1)

 열평형상태

(전자 포획 비율) = (전자 재방출 비율)

Boltzmann 근사 이용시

=

(정공 포획 비율) = (정공 재방출 비율)

)

(2)

Boltzmann 근사 이용시

=

 비평형상태

(전자가전도대로부터포획되는순비율) = (과잉전자포함된포획률) – (전자 재방출비율)

평형상태 때 정의한

대입시

(3)

(정공이가전자대로부터포획되는순비율) = (과잉정공 포획한포획율) – (정공 재방출비율)

평형상태 때 정의한

대입시

(4)

 반도체 내 트랩밀도가 높지 않을 경우 (과잉 전자 농도) = (과잉 정공 농도)

(5)

이 를 다시

,

관련식에 대입할 경우

: 에서의 전자들과 정공들의 재결합율

(6)

6.5.2 외인성 도핑 및 저주입에 의한 제한

■ 과잉 캐리어의 재결합율

 저주입하의 n형 반도체 가정시

, ≫ ,

,

n형 반도체 내 과잉 캐리어 재결합율 : 소수캐리어 정공 파라미터 의 함수 에서

trap 농도와 과잉캐리어의 관계 : 서로 반비례

(7)

 저주입하의 p형 반도체 가정시

,

,

,

P형 반도체 내 과잉 캐리어 재결합율 : 소수 캐리어 전자 파라미터 의 함수 에서

(8)

Chap 7. PN 접합

※ pn 접합 : 반도체 소자의 기본 특성, 동작에 영향

 Pn 접합의 기초 특성 해석 → 모든 소자들에 적용

 Pn 접합 다이오드 → 그 자체로 정류기, 스위칭 회로에 적용

※ 접합 항복 : pn 양단의 큰 역바이어스 전압에 의한 다이오드 파괴 pn 접합 양단의 전압 크기 제한, 차단기 응용

Chap 4. 열평형에서의 전자와 정공 농도 (n0, p0)

열평형에서의 페르미 준위(EF, EFn, EFp) 위치

Chap 6. 과잉 전자, 정공이 반도체 내에서 존재하는 비평형 조건

Chap 7. n-형 반도체와 p-형 반도체의 접촉 → pn 접합

(9)

7.1. pn 접합의 기본 구조

■ 계단 접합 (step junction)

 각 영역 내에서의 도핑 농도 일정. 접합부에서 급격히 변화 : 전자, 정공 농도 기울기 매우 크다

 n 영역 다수 캐리어인 전자 p 영역으로 확산 → (+) 대전 도너 원자 남음 p 영역 다수 캐리어인 정공 n 영역으로 확산 → (-) 대전 억셉터 원자 남음 : (+) 대전도 n 영역 → (-) 대전된 p 영역으로 전계 발생 !

p n

- - - - - - - - - - - -

+ + + + + + + + + + + +

공간전하 영역 E 전계

전자에의‘확산력’

정공에의‘확산력’

정공에의‘E-전계력’

전자에의

‘E-전계력’

양전하 음전하

p n

금속학적접합

정공 확산

전자 확산

참조

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