• 검색 결과가 없습니다.

Annealing Effect on Magnetic and Electrical Properties of Amorphous Ge<sub>1-x</sub>Mn<sub>x</sub> Thin Films

N/A
N/A
Protected

Academic year: 2021

Share "Annealing Effect on Magnetic and Electrical Properties of Amorphous Ge<sub>1-x</sub>Mn<sub>x</sub> Thin Films"

Copied!
5
0
0

로드 중.... (전체 텍스트 보기)

전체 글

(1)

89

비정질 Ge1xMnx 박막의 전기적, 자기적 특성에 미치는 열처리 효과

이병철·김동휘·찬티난안·임영언*·김도진·김효진

충남대학교 재료공학과, 대전 유성구 궁동 220, 305-764

유상수

삼성테크윈(주), 경남 창원시 성주동 42, 641-120

백귀종

테크노세미켐(주), 충남 공주시 검상동 725-15, 314-240

김창수

한국표준과학연구원, 대전 유성구 도룡동, 305-600

(2009년 4월 14일 받음, 2009년 5월 20일 최종수정본 받음, 2009년 5월 21일 게재확정)

저온 증착법으로 성장시킨 비정질

Ge

1 − x

Mn

x 박막을 열처리하여 전기적

,

자기적 특성을 연구하였다

.

비정질 박막의 두께는

1,000~5,000 Å

이고 비정질

Ge

1 − x

Mn

x 박막을 진공 분위기 하에서 각각

300

o

C, 400

o

C, 500

o

C, 600

o

C, 700

o

C

온도에서

3

동안 열처리하였다

.

시료의

Ge

1 − x

Mn

x 박막을

X-

회절로분석해보면 비정질구조를보였지만 열처리를함으로써결정

화되었다

.

비정질

Ge

1 − x

Mn

x박막에서결정화가이루어진온도는

Mn

농도에 따라변화하였다

.

비정질

Ge

1 − x

Mn

x박막은

p

리어를가지고있고열처리동안에도캐리어형태는변하지않았다

.

하지만

,

전기비저항은열처리온도가증가함에따라증가하

였다

.

자기적 특성에서 시료의 비정질

Ge

1 − x

Mn

x 박막은 강자성특성을 보이면서 큐리온도는

130 K

정도이다

.

열처리한

Ge

1 − x

Mn

x박막의큐리온도와포화자화값은열처리온도에따라증가한다

.

자화거동과

X-

분석을통해열처리한

Ge

1 − x

Mn

x

막에전기적

,

자기적특성의변화는 강자성

Ge

3

Mn

5상이형성되었음을 나타낸다

.

주제어

:

자성반도체

,

스핀트로닉스재료

, Ge-Mn

금속간화합물

I. 서

GaMnAs

이용한성공적인 스핀주입결과와 같이

,

묽은

자성반도체

(DMS)

스핀트로닉스 분야에서 스핀 소스나

주입에 대한 가능성 때문에 많은 주목을 끌고 있다

[1-3].

최근에는

III-V

화합물반도체에대한 연구또한집중

[4-6]

되고 있으나

,

이러한 재료들은

Mn

용해도가 낮고 큐리온 도가

110 K

이하인 단점이 있다

.

이에 반해

IV

족의

도체

,

Si, Ge

기반의 자성반도체

(DMS)[7-13]

특성 무척 흥미롭다

.

특히

Ge

Si

이나

GaAs

보다 훨씬 높은

이동도를 가지고 있는데 이것은강자성의 상호작용을

정하는데 필수적인 요소이며

,

이는

Ge

1 − x

Mn

x계에 대한

연구동향과일치하고자성반도체가근본적으로스핀트로 닉스 재료들로구성된다는점을 옹호한다

[7].

또한

1979

년부

J. J Hauser

제안한

IV

비정질 자성 반도체인

SiMn,

XMn(X = Ge, C)

처럼 비정질 형태의 재료에 대한 관심

[14-

16]

최근 비정질

Ge

1 − x

Cr

x

, Si

1 − x

Ce

x 희토류 원소들이

도핑된

Si

대한박막이연구되고있다

[17-19].

우리는비정

자성반도체

Ge

1 − x

Mn

x박막을성장시키고열처리하여

기적

,

자기적 특성변화가 스핀트로닉스소자로적용 가능성 한지 확인하였다

.

II. 실험 방법

비정질

Ge

1 − x

Mn

x 박막은

5000 Å

두께의 산화막이

성된

Si(100)

면에열기화방법으로증착하였다

.

증착동안에

기판온도는

100

o

C,

증착속도는

100 Å/min

으로유지하

였다

.

이때의 증착압력은

10

−6

Torr

이었다

.

열처리 진행을

위해

Ge

0.97

Mn

0.03

Ge

0.84

Mn

0.16조성의 샘플을선택

후에 비정질

Ge

1 − x

Mn

x 박막을 각각

300

o

C, 400

o

C,

500

o

C, 600

o

C, 700

o

C

온도에서 고진공

(

10

−8

Torr)

분위

하에서 열처리하였다

.

열처리 시간은 온도에서

3

분으 고정하였다

.

구조분석은

X-

회절장치

(XRD)

투과전자

현미경

(TEM)

이용하였고

,

표면조직은원자력현미경

(AFM)

이용하여살펴보았으며

,

자기적 특성은자가특성측정시스

(MPMS)

이용하여

5~350 K

온도범위와함께 다양한

*Tel: (042) 821-6635, E-mail: [email protected]

(2)

기장하에서분석하였다

. Hall

효과는

0.5 T

전자석을이용

하여상온에서측정하였으며

,

이때

, Hall

효과와비저항측정 위해고순도의인듐을사용하여저항접촉으로측정하였다

.

III. 결과 및 토의

Fig. 1

에서 보여진 것처럼

X-

회절분석을 통해 시료

Ge

0.97

Mn

0.03

Ge

0.84

Mn

0.16박막은 비정질 형태이지만 처리과정에 의해결정화되었다

.

열처리 후에

peak

들이나타

나는것은 분리와결정화가발생되었음을의미한다

.

그리

비정질

Ge

1 − x

Mn

x박막의결정화가 이루어진온도는

Mn

농도에따라변화하는데

,

실험결과

Ge

0.97

Mn

0.03

Ge

0.84

Mn

0.16

각각

600

o

C

500

o

C

에서결정화가이루어졌다

.

미확인된

peak

들은 복합

2

원계 화합물의 형성으로 인해 나타난다

.

정질과 결정질 모두

Fig. 2

에서 보여지는 전자회절패턴은

Ge

1 − x

Mn

x박막의열처리 조건에따라 변화한다

. 500

o

C

에서

3

분간 열처리한 비정질상태의

Ge

0.97

Mn

0.03 박막은

Fig. 2(a)

에서 보여지듯이 전자회절패턴에서 널리 퍼지는 고리모양으

관찰되었다

.

반면

, Fig. 2(b)

에서 보인 것처럼

600

o

C

에서

3

분간 열처리한

Ge

0.97

Mn

0.03박막의 회절패턴은널리 퍼지는

고리모양과 다른 여러 개의 점들로 나타나고

TEM

이미 지의 밝은부분을통해임의의결정방향을갖는 결정상이 성되었음을 있고 이로인해 여러 방향을 갖는 결정상 들이 비정질시료 내에혼합되어있음을 있다

.

원자력

현미경

(AFM)

통한 표면 조직 분석 결과

,

샘플의 표면은

매우 거칠었고여러개의 작은언덕형태와생김새가닮았

.

이러한 형태는

600

o

C

이상 열처리한 모든 샘플에서 형적으로 나타났다

. X-

회절에서 보여지듯이

600

o

C

이상

열처리한 샘플들은임의의결정방향을갖는다결정이다

.

이에 반해서

,

비정질샘플들은매우평평한표면을나타내고전기적

특성은 열처리 온도에 따라 변화하였다

.

비정질

Ge

1 − x

Mn

x

박막은

p

캐리어를 가지며 열처리 후에도 캐리어 형태는

변화하지 않았다

.

하지만

, Fig. 3

에서 보여지듯이 전기 비저

항은 열처리온도에 따라증가하였다

.

이러한 전기 비저항의 변화는 첫째

,

비정질에서 결정질로 상변화가 발생하면서관찰되었다

.

전기비저항은비정질구조 내에서열처리에따라미세한 결정상들이생성하면서뚜렷하 Fig. 1.

X-ray diffraction spectra of amorphous Ge

1 − x

Mn

x

(x = 0.03,

0.16) thin films annealed for 3 minutes at various annealing tem- peratures.

Fig. 2.

TEM observation of amorphous Ge

0.97

Mn

0.03

thin films

annealed (a) at 500

o

C and (b) 600

o

C.

(3)

감소하였다

.

둘째

,

전기비저항이비정질 상태에서열처리 온도에따라 증가하였는데이는 열처리 과정 후에 캐리어 밀도가 감소하 였기 때문이다

.

시료의 비정질

Ge

0.97

Mn

0.03 박막의 경우

3.2 × 10

18

/cm

3 이였으나

400

o

C

에서 열처리한 샘플은

1.2 × 10

18

/cm

3

, 500

o

C

열처리 후에는

9.7 × 10

17

/cm

3 열처리 도가증가함에따라농도는감소하였다

. Hall

효과측정과

X-

분석을 통해 미세한 결정상들이 생성될 농도는 감소하였고그것들은전기 비저항의감소에 영향을미친다

.

Fig. 4

에서열처리한

Ge

0.97

Mn

0.03박막의자화에대한온도 의존성은열처리 온도에따라다르게 보여진다

.

자기장의

향은샘플표면과 평행하게하였다

.

시료와 낮은온도에서

열처리한

Ge

0.97

Mn

0.03박막의 온도에대한 자화곡선은일반

적인 강자성 자화 곡선과 비슷한거동을 보인다

. Fig. 5

에서

보여지듯이 비정질 구조를유지하는

Ge

1 − x

Mn

x 박막의큐리

온도는

130 K

에서

205 K

까지열처리온도에따라증가하였다

.

게다가

,

큐리온도는

400

o

C

에서 열처리한후에 증가하다가

600

o

C

부터는 포화되는데 그때의 큐리온도는

300 K

른다

. Fig. 6

열처리한

Ge

0.97

Mn

0.03 박막의

5 K, 300 K

서의 자기장에따른 자화곡선을 보여준다

.

뚜렷한 자기이력 곡선은 정렬이잘된 강자성구조의 존재를나타내고있으며

,

온도가높아지면서자화값이감소하는전형적인강자성자화 곡선을 보인다

.

더욱이

, 600

o

C

700

o

C

에서 열처리한

Ge

0.97

Mn

0.03샘플들은상온에서도강자성특성을보이고있다

.

Fig. 5.

Change of Curie temperatures and Saturation magnetization at 5 K of annealed Ge

0.97

Mn

0.03

thin films as a function of annealing temperatures.

Fig. 3.

Resistivity of annealed amorphous Ge

1 − x

Mn

x

thin films as a function of annealing temperatures.

Fig. 4.

Temperature dependence of magnetization of amorphous Ge

0.97

Mn

0.03

thin films annealed at various temperatures. Applied magnetic field was 2 T.

Fig. 6.

(a) Magnetic hysteresis loops measured at 5 K of amorphous

Ge

0.97

Mn

0.03

thin films annealed at various temperatures. (b) Magnetic

hysteresis loops at 5 K and 300 K of Ge

0.97

Mn

0.03

thin films annealed

at 700

o

C.

(4)

하지만

,

앞서

XRD

결과와 비교하면

,

높은 온도

(600

o

C, 700

o

C)

에서열처리한후의높은큐리온도

(~300 K)

작은 이즈의 강자성

Ge

3

Mn

5상의 형성에 의해 나타난다고 판단된

.

이유는

Ge-Mn

계에서 오로지

Ge

3

Mn

5상의 큐리온도

300 K

가지고있으며

[20, 21],

열처리온도가증가함

으로써 자화값이 감소하였기 때문이다

(600

o

C

에서

56 emu/

cm

3

, 700

o

C

에서

39 emu/cm

3

). Ge

3

Mn

5상은 열처리 온도가

증가할수록

Ge

3

Mn

5상과 다른 자화 특성을 갖는 다른

Ge-Mn

(Ge

8

Mn

11

)

으로천이된다

.

,

열처리온도에따라

화값이 감소하는경향을 보인다

[22].

이러한특정 상의 천이

대해서는이미알려진특정 자성상의거동에의하여나타 나지는자성 특성을통하여

,

특정상의생성과 천이는충분히 예측이가능하다

.

우리 경우와 같이

, GaMnAs

에서도 높은 온도에서의 열처

리는

MnAs

GaAs

상분리를 야기시킨다고 보고 되었다

[23].

이와대조적으로

,

우리는 예상외로낮은 열처리온도에

보다 높은 큐리온도에 도달하였음을발견하였고 낮은 처리 온도

(400

o

C, 500

o

C)

에서 큐리온도와 자화값이 열처리 온도에 따라 증가하였다

.

이러한 경우에는

Ge

0.97

Mn

0.03 박막 미세구조에 아무런변화가없었고이는낮은온도에서 처리한 후에

Ge

0.97

Mn

0.03 박막은 동질성을 유지하였음을

타낸다

.

사실

, XRD

TEM

통해우리샘플내에클러스터가

존재하는지아닌지를알기가 어렵다

.

분명한많은반강자

,

상자성 또는 반자성상들이

Ge-Mn 2

원계에 존재할 것이

.

하지만

,

우리가열처리한비정질

Ge

0.97

Mn

0.03 박막으로부 얻은 다양한 큐리온도는

Ge-Mn 2

원계 내에 이전에보고 상이나 어떤다른 산화물을찾을수가 없다

.

따라서비정

Ge

0.97

Mn

0.03 박막의 큐리온도와 자화값은 열처리 온도에 의해 다양하게변화한다고 결론 내릴 있다

.

하지만

,

열처 후에 큐리온도와 자화값이 증가하는 것에 대해 조금 연구해필요가있다

.

실험에서와같이 열처리

,

전기 적으로 홀농도와 이동도가 감소함에 따라 강자성 특성

(

큐리 온도

,

자화값

)

감소하여야 하지만

,

실험에서는 반대 결과를보인다

.

열처리에대해 언급하면

,

일반적으로열처 리는 물질내의 원자위치를 변화시킨다

.

예를 들면 합금에서

원자들의 확산으로 인해 원자의 조직

(state of order)

변화

시킨다

.

강자성에대한 열처리효과를근거하여 우리는결과

적으로열처리로인해강자성특성이

Ge

1 − x

Mn

x합금의원자

조직에 의존한다고말할 있다

.

또한

,

큐리온도는

Mn

농도 농도처럼평균적인매개변수를 더하여

Mn

농도가증가 함에따라 같이증가한다고알려져있다

.

거동은

T. Dietl

등이제안한강자성모델

(Zener Model)

일치한다

[24].

일반 적으로알려진자성반도체의큐리온도에관한수식은다음과 같다

.

Tc

=

CXp1/3

,

X는치환된

Mn

2+이온들에대한 몰분율

,

p는농도이고

C는다수 재료에대한특정상수이다

.

하지만우리의경우

,

리온도가 고정된

Mn

농도에서 다양하게 변하고오히려 열처

농도는 감소하였다

.

이러한큐리온도의변화는

Mn

스핀들 사이의상호 작용때문이라고생각된다

.

비록 우리연

구에서 원자배열을확인할없었지만

,

열처리결과는강자 성을 야기시키는 캐리어를 알아보기 위해 다소 특별한원자 배열이 필요하다고생각된다

.

논문에서는열처리효과에대한비정질

Ge

1 − x

Mn

x박막

전기적

,

자기적 특성에 대해 연구 하였다

.

전기 비저항은

비정질

Ge

1 − x

Mn

x 박막에서열처리 온도에 따라 증가하였는

이는 열처리 후에 농도가 감소했기때문이다

.

하지만

,

비정질 구조에 예상되는 미세한 결정상들로인해 전기 비저 항은 급격히 감소한다

.

열처리한비정질

Ge

0.97

Mn

0.03 박막은 강자성체이고포화자화값은열처리온도에따라증가하여

320 K

였다

.

그로 인해 상온에서도 강자성 특성이 관찰되

었는데 이는 비정질 구조내에서 생성된 작은 사이즈의강자

Ge

3

Mn

5때문이다

.

감사의 글

연구는

Brain Korea 21 Program(BK21

첨단부품소재 사업단

)

지원을 받아연구되었습니다

.

참고문헌

[1] Y. Ohno, Nature,

402

, 790 (1999).

[2] H. Ohno, Science,

281

, 951 (1998).

[3] W. S. Im,

et al

., J. of Kor. Mag. Soc.,

14

, 213 (2004).

[4] T. Dietl, H. Ohno,

et al

., Science,

287

, 1019 (2000).

[5] F. C. Yu,

et al

., J. of Magnetics,

10

, 103 (2005).

[6] P. H. Quang,

et al

., J. of Magnetics,

12

, 149 (2007).

[7] Y. D. Park,

et al

., Science,

295

, 651 (2002).

[8] A. Stroppa,

et al

., Phys. Rev. B,

68

, 155203 (2003).

[9] S. Cho,

et al

., Phys. Rev. B,

66

, 033303 (2002).

[10] N. Pinto,

et al

., J. Mater. Sci.: Mater. Electrons,

14

, 337 (2003).

[11] Y. J Zhao, T. Shishidou, and A. J. Freeman, Phys. Rev. Lett.,

90

, 047204 (2003).

[12]

김우철

,

배성환

,

김삼진

,

김철성

,

김광주

,

윤정범

,

정명화

,

한국

자기학회지

,

17

, 81 (2007).

[13] S. H. Na,

et al

., J. of Magnetics,

13

, 23 (2008).

[14] J. J. Hauser,

et al

., Phys. Rev. B,

20

, 83391 (1979).

[15] J. J. Hauser,

et al.

, Phys. Rev. B,

22

, 2554 (1980).

[16] S. S. Yu,

et al.

, J. Magn. Magn. Mater.,

304

, 167 (2006).

[17] W. B Paek,

et al.

, Phys. Stat. Sol. (b),

7

, 1521 (2004).

[18] M. S. Sercheli,

et al.

, Phys. Rev. B,

68

, 174418 (2003).

(5)

[19] S. S. Yu,

et al.

, J. Magn. Magn. Mater.,

304

, 170 (2004).

[20] N. Yamada,

et al.

, J. Phys. Soc. Japan.,

59

, 273 (1990).

[21] Y. E. Ihm,

et al.

, J. Magn. Magn. Mater.,

272

, Supplement 1, E1539-E1540 (2004).

[22] Y. M. Cho,

et al.

, J. Magn. Magn. Mater.,

282

, 385 (2004).

[23] J. De Boeck,

et al.

, Appl. Phys. Lett.,

68

, 2744 (1996).

[24] T. Dietl,

et al.

, Science,

287

, 1019 (2000).

Annealing Effect on Magnetic and Electrical Properties of Amorphous Ge

1 − x

Mn

x

Thin Films

Byeong Cheol Lee, Dong Hwi Kim, Tran Thi Lan Anh, Young Eon Ihm

*

, Dojin Kim, and Hyojin Kim

Chungnam National University, Daejeon 305-764, Korea

Sang Soo Yu

Samsung Techwin Co., Ltd, Changwon-city 641-120, Korea

Kui Jong Baek

Techno Semichem Co., Ltd, Kongju-city 314-240, Korea

Chang Soo Kim

Korea Research Institute of Standards and Science, Daejeon 305-600, Korea (Received 14 April 200, Received in final form 20 May 2009, Accepted 21 May 2009)

Amorphous Ge

1 − x

Mn

x

semiconductor thin films grown by low temperature vapor deposition were annealed, and their electrical and magnetic properties have been studied. The amorphous thin films were 1,000~5,000 Å thick. Amorphous Ge

1 − x

Mn

x

thin films were annealed at 300

o

C, 400

o

C, 500

o

C, 600

o

C and 700

o

C for 3 minutes in high vacuum chamber. X-ray diffraction analysis reveals that as-grown Ge

1 − x

Mn

x

semiconductor thin films are amorphous and are crystallized by annealing. Crystallization temperature of amorphous Ge

1 − x

Mn

x

semiconductor thin films varies with Mn concentration. Amorphous Ge

1 − x

Mn

x

thin films have p-type carriers and the carrier type is not changed during annealing, but the electrical resistivity increases with annealing temperature. Magnetization characteristics show that the as-grown amorphous Ge

1 − x

Mn

x

thin films are ferromagnetic and the Curie temperatures are around 130 K. Curie temperature and saturation magnetization of annealed Ge

1 − x

Mn

x

thin films increase with annealing temperature.

Magnetization behavior and X-ray analysis implies that formation of ferromagnetic Ge

3

Mn

5

phase causes the change of magnetic and electrical properties of annealed Ge

1 − x

Mn

x

thin films.

Keywords :

magnetic semiconductor, spintronics materials, Ge-Mn intermetallic compounds

수치

Fig. 2.  TEM observation of amorphous Ge 0.97 Mn 0.03  thin films annealed (a) at 500 o C and (b) 600 o C.
Fig. 3.  Resistivity of annealed amorphous Ge 1 − x Mn x  thin films as a function of annealing temperatures.

참조

관련 문서

4 shows the resistivity, carrier concentration and Hall mobility of the La 2 NiO 4+δ thin films which were deposited at room temperature and post- annealed in O 2 for 5 h

Cd 1−x Mn x Te thin films were prepared by co-sputtering of CdTe and Mn targets on soda-lime glass substrates at various substrate temperatures.. The sputtering powers of the CdTe

We fabricated Ga doped ZnO (GZO) thin films on the glass substrate (Eagle 2000) with various of Ga doping concentration and annealing temperatures using sol-gel method,

The precursor Cu-In-Ga-Se films were annealed for crystallization to chalcopyrite structure at temperatures of 100-500 o C under Ar gas atmosphere. The

We have investigated the influence of rapid thermal annealing (RTA) temperature on properties of Al-doped zinc oxide (AZO) thin films deposited on glass substrate

deposited and post-annealed Al-doped ZnO films, respectively. The undoped and Al-doped ZnO films showed almost same behavior of the oxygen deficiency before and after annealing.

The crystal structure of ITO thin films changed with various annealing temperatures and annealing methods such as atmosphere or vaccum conditions.. The amorphous structure observed

Pseudo first order rate kinetics for photocatalytic degradation of methylene blue using WO 3 thin films annealed at