제1장 반도체의 개요
1.1 원자(Atom)
- 원자는 물질을 형성하는 가장 작은 입자이며, 즉 모든 물질의 기본 구성 단위
⇒ 보어는 핵과 핵 주위를 회전하는 전자로 구성된 원자 모델을 제안
⇒
원자(atom)
원자핵(atomic nucleus)
전자(electron)
⇒
원자핵
양성자(proton)
중성자(neutron)
⇒ 양성자는 양(), 전자는 음()으로 대전된 입자
⇒ 중성자는 전기적인 특성을 갖지 않는 입자
전자 양성자 중성자
그림 1.1 보어(Bohr)의 원자 모델
- 원자들은 각각 서로 다른 수의 전자와 양성자로 이루어져 다른 원자들과 구분
⇒ 그림 1.2(a)에서 수소 원자는 1개의 양성자와 1개의 전자로 구성
⇒ 그림 1.2(b)에서 헬륨 원자는 2개의 양성자와 2개의 전자로 구성
중성자
전자
양성자 원자핵
(a) 수소 원자 (b) 헬륨 원자
•원자번호(Atomic Number)
- 모든 원소는 양성자 수와 동일한 고유의 원자번호에 따라 주기율표에 배열
⇒ 원자는 동일한 수의 양성자와 전자를 가지며, 전기적으로 중성
⇒ 그림 1.3은 원자번호에 따라 모든 원소를 배열한 주기율표
그림 1.3 원소의 주기율표(Periodic Table)
◉ 전자각(Electron Shell)과 궤도
•에너지 준위(Energy Level)
- 전자는 원자핵으로부터 특정 거리를 두고 원자핵 주위의 일정한 궤도를 회전
⇒ 원자내의 궤도는
전자각이라는 에너지 준위(energy level)를 형성
⇒
각(shell)은 특정 에너지 준위에 해당하며 불연속적으로 위치한 궤도
⇒ 그림 1.4는 실리콘 원자의 전자각을 보여주는 보어 모델을 표시 - 원자핵으로부터 먼 궤도의 전자일수록 에너지 준위가 높고 핵과의 결합력 弱
⇒ 최고의 에너지 준위를 가진 전자들은 최외각 궤도(가전자각)에 존재
⇒
가전자(valence electron), 최외각 전자(peripheral electron)
⇒ 물질 내에서 화학적 반응과 결합에 기여하여 물질의 특성을 결정 - 각각의 전자각 내의 최대 전자수
는 전자각의 번호가 일 때
⇒ 각1 :
× , 각2 :
× ⇒ 각3 :
× , 각4 :
× 1.1 원자(Atom) 3
14p,14n 각1
각2
핵 각3
그림 1.4 실리콘 원자의 보어 모델
◉ 이온화(Ionization)
- 원자핵에 가까운 궤도의 전자들은 원자핵과의 결합력이 강하여 궤도 이탈 불가
⇒
구속전자(bound electron)
- 최외각 전자들은 충분한 에너지를 흡수하면 원자로부터 궤도의 이탈이 가능
⇒
자유전자(free electron)
- 중성상태의 원자가 전자를 얻거나 잃고서 전기적 성질을 띠게 되는 현상
⇒
대전(electrification)
또는이온화(ionization)
- 중성상태의 원자가 전자를 잃고서 ()로 대전된 원자, 양성자수>전자수
⇒
양이온(positive ion)
- 중성상태의 원자가 전자를 얻어서 ()로 대전된 원자, 전자수>양성자수
⇒
음이온(negative ion)
1.2 전자소자에 사용되는 물질
◉ 절연체, 도체 및 반도체
- 전기적인 특성의 관점에서 보면 원자는 가전자각(최외각)과 코어(core)로 표시
⇒ 코어는 원자핵과 내부 전자각으로 구성
- 그림 1.6과 같이 탄소 원자는 2개의 코어 전자와 4개의 최외각 전자로 구성
⇒ 코어는 4의 순전하(net charge)를 보유
⇒ 순전하(4) 원자핵(6) 전자(2)
+6
코어(4)
그림 1.6 탄소의 원자 모델
•절연체(Insulator)
- 가전자들이 원자에 구속되어 자유전자가 거의 없어서 전류가 흐르지 않는 물질
⇒ 4개 이상의 가전자로 구성, 전류의 흐름을 막기 위한 용도로 사용
⇒ 고무, 플라스틱, 유리, 운모, 석영 등의 화합물
•도체(Conductor)
- 한 개의 가전자를 갖는 원자로 구성된 물질로 무수히 많은 자유전자를 보유
⇒ 자유전자가 동일 방향으로 움직일 때 전류(current)를 형성
⇒ 금, 은, 구리, 알루미늄, 철과 같은 단일원소 물질
•반도체(Semiconductor)
- 도체보다 적은 자유전자를 가지고 있어 전류의 흐름이 원활하지 않은 물질
⇒ 실리콘(Si)과 게르마늄(Ge)이 가장 보편적인 반도체 물질
⇒ 단일원소의 반도체는 4개의 가전자를 갖는 원자들로 구성
1.2 전자소자에 사용되는 물질 5
◉ 에너지갭(Energy Gap)
- 전자의 에너지 준위가 서로 인접한 다른 원자의 영향으로 띠 모양으로 퍼진 것
⇒
에너지대(energy band)
- 각 원자의 동일 에너지 준위의 가전자각이 띠 모양으로 퍼져 에너지대를 형성
⇒
가전자대(valance band)
- 가전자대의 전자들이 외부에서 충분한 에너지를 얻으면 전도대로 이동
⇒ 전도대의 전자는 원자에 구속되지 않고 자유롭게 이동 가능
⇒
자유전자(free electron)
- 가전자가 가전자대에서 전도대로 이동하기 위해 필요한 에너지의 양
⇒ 가전자대와 전도대 사이의 에너지 준위의 차이
⇒
에너지 갭(energy gap)
중첩
0
가전자대 전도대 에너지
에너지갭
(a) 절연체
0
가전자대 전도대 에너지
에너지갭
(b) 반도체
0
가전자대 전도대 에너지
(c) 도체 그림 1.7 물질의 종류에 따른 에너지대의 구조
- 절연체는 에너지갭이 매우 커서 가전자대의 전자들이 전도대로 이동 불가
⇒ 고전압에 의한 항복상태가 되면 이동 가능, 그림 1.7(a)
- 반도체는 에너지갭이 작아서 가전자대의 전자들이 전도대로 쉽게 이동 가능
⇒ 전도대의 전자들(자유전자)이 도전현상에 기여, 그림 1.7(b) - 도체는 그림 1.7(c)와 같이 가전자대와 전도대가 겹쳐서(중첩되어) 존재
⇒ 항상 많은 자유전자가 존재
◉ 도체 원자와 반도체 원자의 비교
- 그림 1.8은 반도체인 실리콘(Si)과 도체인 구리(Cu)의 원자구조를 표시
⇒ 실리콘 원자의 코어는 순전하 4(양성자 14, 전자 10)
⇒ 구리 원자의 코어는 순전하 1(양성자 29, 전자 28)
⇒ 실리콘이 구리보다 가전자에 대해 4배 큰 구속력 보유
(b) 구리(Cu) (a) 실리콘(Si)
+14
코어( ) 가전자
+29
코어(1) 가전자
그림 1.8 실리콘과 구리의 원자구조
◉ 실리콘과 게르마늄
- 그림 1.7은 반도체 물질인 실리콘(Si)과 게르마늄(Ge)의 원자구조를 표시
⇒ 실리콘의 가전자가 게르마늄의 가전자보다 가까이 위치
⇒ 게르마늄의 가전자가 실리콘의 가전자보다 높은 에너지준위
⇒ 실리콘의 가전자가 전도대로 이동하는데 더 많은 에너지 필요 4개의 가전자
(b) 게르마늄(Ge) (a) 실리콘(Si)
+14
+32
그림 1.9 실리콘과 게르마늄의 원자구조
1.2 전자소자에 사용되는 물질 7
•공유결합(Covalent Bonds)
- 원자가 고체상태의 분자로 결합될 때 결정내의 각 원자들은 가전자들을 공유
⇒ 원자들은 분자간 결합력이 강하여 안정된 결합상태를 유지
⇒
공유결합(covalent bonds)
- 그림 1.10의 실리콘 원자는 이웃한 4개의 원자와 각각 한 개씩 가전자를 공유
⇒ 각 실리콘 원자가 8개의 가전자를 갖게 되는 효과를 표시
⇒ 공유된 전자들은 인접한 원자에 의해 같은 인력이 작용
⇒ 화학적으로 안정된 결합상태를 유지
Si Si Si
Si
Si
+14 +14
+14
+14 +14
(a) 공유결합 (b) 결합 다이어그램 그림 1.10 실리콘의 공유결합
- 그림 1.11은 순수한(진성) 실리콘 결정 내에서 원자의 공유결합 구조를 표시
⇒ 불순물이 포함되지 않는
진성(intrinsic)의 실리콘 결정
Si Si Si Si Si
Si Si Si Si Si
Si Si Si Si Si
Si Si Si Si Si
그림 1.11 실리콘 결정의 공유결합
1.3 반도체 내의 전류
- 그림 1.12는 절대온도 0°K에서 여기되지 않은 실리콘 결정의 에너지대를 표시
⇒ 핵 주위에 존재하는 각각의 전자각은 각각의 에너지대와 일치
⇒ 각 전자각 사이에는 전자가 존재하지 않는 에너지갭이 존재
핵
에너지갭 에너지갭 에너지
에너지갭 첫째 대(각1)
둘째 대(각2) 가전자대(각3) 전도대
그림 1.12 실리콘 원자의 에너지대 구조
◉ 전도전자와 정공
- 가전자들은 충분한 열에너지를 받으면 자유전자가 되어 전도대로 이동
⇒
전도전자(conduction electron)
+14 +14
열에너지 자유전자
정공
(b) 결합 다이어그램 에너지
가전자대 전도대
에너지갭
정공 자유전자
열에너지
전자-정공쌍 (a) 에너지 다이어그램
그림 1.13 실리콘 결정에서의 전자-전공쌍의 생성
1.3 반도체 내의 전류 9
- 그림 1.13(a)는 실리콘의 에너지대, 그림 1.13(b)는 결합 다이어그램을 표시
⇒ 전자가 전도대로 이동하면 가전자대에 빈자리가 하나 생성
⇒
정공(hole)
,전자-정공쌍(electron-hole pair)
- 여기된 전도대의 전자가 에너지를 잃으면 다시 가전자대의 정공으로 복귀
⇒
재결합(recombination)
- 그림 1.14는 실리콘 결정 내의 가전자들이 여기되고 재결합되는 상태를 표시
Si Si Si Si Si
Si Si Si Si Si
Si Si Si Si Si
Si Si Si Si Si
전자-정공쌍 의 생성
정공과 전자 의 재결합
열에너지
그림 1.14 실리콘 결정 내의 전자-정공쌍
◉ 전자전류와 정공전류
- 전도대 내의 열적으로 생성된 자유전자는 결정구조 내에서 불규칙적으로 분포
⇒ 그림 1.15와 같이 전압을 인가하면 자유전자들이 양극 쪽으로 이동
⇒ 자유전자들이 이동하면서 반도체 내에서 전류를 형성
⇒
전자전류(electron current)
Si Si
Si Si Si
Si Si Si
Si Si Si
Si Si Si
Si
그림 1.15 진성 실리콘 내의 전자전류
- 가전자대의 전자들은 원자에 구속되어 결정 내에서 자유로운 이동이 곤란
⇒ 가전자들은 인접한 원자의 정공으로 이동하여 정공과 결합 가능
⇒ 가전자가 이동한 자리에는 새로운 정공이 생성
- 그림 1.16와 같이 가전자의 이동에 따라 정공이 한 곳에서 다른 곳으로 이동
⇒ 정공의 이동은 반도체 내에서 또 다른 전류를 형성
⇒
정공전류(hole current)
- 그림 1.16에서 가전자는 좌측에서 우측으로, 정공은 우측에서 좌측으로 이동
⇒ 파란색 화살표는 전자의 이동, 빨간색 화살표는 정공의 이동
① 자유전자는 가전자각에 정공을 생성
② 가전자가 첫째 정공으로 이동 둘째 정공을 생성
③ 가전자가 둘째 정공으로 이동 셋째 정공을 생성
④ 가전자가 셋째 정공으로 이동 넷째 정공을 생성
⑤ 가전자가 넷째 정공으로 이동 다섯째 정공을 생성
⑥ 가전자가 다섯째 정공으로 이동 여섯째 정공을 생성
Si Si Si
그림 1.16 진성 실리콘 내의 정공전류
- 전류는 ()전하를 가진 전자 및 ()전하를 가진 정공의 이동에 의해 발생
⇒ 전자와 정공을
전류 캐리어(current carrier)라 지칭
1.4 n형과 p형 반도체 11
1.4 n형과 p형 반도체
•도핑(Doping)
- 불순물이 섞이지 않고 공유결합으로 이루어진 순수한 실리콘과 게르마늄 결정
⇒ 자유전자와 정공의 농도가 거의 동일
⇒
진성반도체(intrinsic semiconductor)
- 진성반도체에는 전류 캐리어인 전자나 정공이 거의 없으므로 전류 생성 불가
⇒ 원자가전자가 4가인 Si이나 Ge에 3가 또는 5가의 불순물을 첨가
⇒ 전자나 정공의 수를 증가시켜 전도성을 향상시키는 과정
⇒
도핑(doping)
◉ n형 반도체
- 4가의 진성반도체에 5가의 불순물을 첨가하여 잉여전자를 추가한 반도체
⇒
n 형 반도체(negative type semiconductor)
- 그림 1.17은 4가의 실리콘 원자와 5가의 안티몬 원자의 공유결합 상태를 표시
⇒ 4개의 Sb의 가전자는 Si와 공유결합하고 1개의 잉여전자가 생성
Si
Si Sb Si
Si
잉여전자 Si
Si Sb Si
Si
자유전자
도너원자 도너이온
그림 1.17 실리콘 결정 구조에서 5가 불순물 원자
- 진성반도체에 첨가되어 4가의 원자와 공유결합된 5가의 불순물 원자
⇒
도너원자(donor atom)
- 중성상태에서 1개의 잉여전자를 잃고 양이온으로 전이된 도너원자
⇒
도너이온(donor ion)
- n형 반도체는 5가의 불순물 첨가로 정공의 수에 비해 전자의 수가 과다
⇒ 다수캐리어(majority carrier) : 전자(electron)
◉ p형 반도체
- 4가의 진성반도체에 3가의 불순물을 첨가하여 잉여정공을 추가한 반도체
⇒
p 형 반도체(positive type semiconductor)
- 그림 1.18은 4가의 실리콘 원자와 3가의 붕소 원자의 공유결합 상태를 표시
⇒ 3개의 B의 가전자는 Si와 공유결합하고 1개의 잉여정공이 생성
Si
Si B Si
Si
잉여정공
억셉터원자
Si
Si B Si
Si 억셉터이온
그림 1.18 실리콘 결정 구조에서 3가 불순물 원자
- 진성반도체에 첨가되어 4가의 원자와 공유결합된 3가의 불순물 원자
⇒
억셉터원자(acceptor atom)
- 중성상태에서 잉여정공이 전자와 결합하여 음이온으로 전이된 억셉터원자
⇒
억셉터이온(acceptor ion)
- p형 반도체는 3가의 불순물 첨가로 전자의 수에 비해 정공의 수가 과다
⇒ 다수캐리어(majority carrier) : 정공(hole)
⇒ 소수캐리어(minority carrier) : 전자(electron)
- 다음의 표는 진성반도체에 첨가되는 3가 및 5가의 불순물 원소를 표시
구 분 불순물 원소와 원소 기호
3가 원소 인듐(In, 49), 갈륨(Ga, 31), 붕소(B, 5), 알루미늄(Al, 13) 5가 원소 비소(As, 33), 안티몬(Sb, 51), 인(P, 15), 비스무트(Bi, 83)
3가 및 5가의 불순물 원소
1.5 pn접합(pn Junction) 13
1.5 pn접합(pn Junction)
◉ 공핍영역의 형성
- 그림 1.19(a)와 같이 실리콘의 반은 3가의 불순물, 반은 5가의 불순물로 도핑
⇒ p형과 n형 사이의 경계부분인
pn 접합(pn junction)이 형성
⇒ p영역에서 다수캐리어는 정공, 소수캐리어는 전자
⇒ n영역에서 다수캐리어는 전자, 소수캐리어는 정공
- 그림 1.19(a)에서 n영역의 다수캐리어인 전자가 접합면을 넘어 p영역으로 확산
⇒ 접합면 근방에서 p영역의 다수캐리어인 정공과 결합
⇒ n영역의 5가의 원자들은 전자를 잃고 도너이온()으로 전이
⇒ p영역의 3가의 원자들은 전자를 얻어 억셉터이온()으로 전이
⇒ 접합면 근방에서 전류캐리어인 정공과 전자들이 모두 소멸
⇒
공핍영역(depletion region)
n영역 pn접합
p영역 n영역
공핍영역 p영역
장벽전위 (b) 장벽전위의 발생 (a) pn접합 부근의 전자와 정공
그림 1.19 pn접합에 따른 공핍영역의 생성
- 그림 1.19(b)에서 공핍영역의 양이온과 음이온은 접합면 근방에 전계를 형성
⇒ n영역의 전자가 접합면을 넘어 확산되는 것을 방해
⇒
전위장벽(potential barrier)
- p영역과 n영역 사이의 전위장벽에 형성되는 전계에 의해 나타나는 전위차
⇒ 실리콘의 경우 약
0.7V,
게르마늄의 경우 약 0.3V⇒
장벽전위(barrier potential)
- n영역의 전자들이 전위장벽을 넘어 p영역으로 이동하려면 에너지가 필요
⇒ 외부에서 장벽전위보다 크고 극성이 반대인 전압을 인가
◉ pn접합의 에너지대 구조와 공핍영역
- 5가와 3가 불순물의 원자적 특성에 기인한 전도대와 가전자대의 에너지준위
⇒ n영역이 p영역보다 약간 낮아 중첩 부분이 형성
(a) pn접합의 형성 순간 에너지
가전자대 전도대
소수캐리어 다수캐리어
다수캐리어 소수캐리어
p영역 pn접합 n영역 0
에너지
가전자대 전도대
(b) 평형상태 p영역 공핍영역 n영역 0
그림 1.20 pn접합과 공핍영역의 형성을 보여주는 에너지 다이어그램
- 그림 1.20(a)는 공핍영역이 형성될 때 pn접합에 대한 에너지대 구조를 표시
⇒ n영역의 에너지대가 p영역보다 낮은 에너지준위에 위치
⇒ n영역의 전도대의 상측 전자들은 p영역의 하측으로 확산
⇒ 에너지를 잃고 가전자대로 떨어져서 가전자대의 정공과 결합
⇒ 확산이 계속되면서 공핍영역이 형성되기 시작
⇒ n영역의 전도대의 에너지준위가 감소
- 그림 1.20(b)와 같이 p영역 전도대의 하측과 n영역의 상측 에너지준위가 평형
⇒ p영역과 n영역의 접합면에 에너지 경사가 생겨 공핍영역이 완성
⇒ n영역에서 p영역으로의 전자의 확산이 중지
- 그림 1.19(b)에서 가전자대와 전도대 사이의 에너지갭은 항상 일정하게 유지
⇒ 전도대의 에너지준위가 낮아지면 가전자대의 에너지준위도 감소
⇒ 가전자가 자유전자가 되기 위해서 필요한 에너지의 양은 동일