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극저주파자기장 개인 평균노출수준

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Ⅳ. 연구 결과

4.2. 비전리방사선(극저주파자기장) 노출수준 평가 결과

4.2.2. 극저주파자기장 개인 평균노출수준

4.2.2.2. 사업장 라인별 개인노출수준

사업장 라인별 극저주파자기장 개인 평균 노출수준은 그림Ⅳ-15와 같이 통계적으 로 유의한 차이가 없는 것으로 나타났다(

F

(5, 74)= 0.771,

p

= 0.573). 사업장 라인별 근로자에게 노출되는 극저주파자기장 평균 노출수준은 표Ⅳ-15와 같이 A-1 라인이 0.608 ± 0.268 μT (SE = 0.077)로 가장 높았으며, A-3 라인 0.600 ± 0.109 μT (SE = 0.038), A-2 라인 0.577 ± 0.124 μT (SE = 0.029), B-1 라인 0.553 ± 0.089 μT (SE = 0.019), B-2 라인 0.530 ± 0.046 μT (SE = 0.013), B-3 라인 0.508 ± 0.009 μT (SE = 0.004) 순으로 나타났다.

사업장 측정

근로자수

극저주파자기장 노출수준 (μT)

AM SD SE GM GSD 범위

최저 최고 p값 A-1 12 0.608 0.268 0.077 0.575 1.365 0.5 1.42

0.573 A-2 19 0.577 0.124 0.029 0.567 1.201 0.5 0.97

A-3 8 0.600 0.109 0.038 0.592 1.189 0.51 0.79 B-1 23 0.553 0.089 0.019 0.547 1.150 0.5 0.82 B-2 13 0.530 0.046 0.013 0.528 1.086 0.5 0.64 B-3 5 0.508 0.009 0.004 0.508 1.018 0.5 0.52 합계 80 0.565 0.134 0.015 0.554 1.196 0.5 1.42 표Ⅳ-15. 사업장 라인별 극저주파자기장 개인 평균노출수준

※ AM : 산술평균, SD : 표준편차, SE : 표준오차, GM : 기하평균, GSD : 기하표준편차

그림Ⅳ-15. 사업장 라인별 극저주파자기장 개인 평균노출수준

4.2.2.3. 생산 라인별 개인노출수준

생산 라인별 극저주파자기장 개인 평균 노출수준은 통계적 유의성이 없는 것으로 나타났다(

F

(2, 77)= 0.485,

p

= 0.618). 표Ⅳ-16과 같이 fab 라인 근로자의 극저주파 자기장 개인 최대노출수준이 0.569 ± 0.415 μT (SE = 0.018)로 가장 높았고, module 라인은 0.565 ± 0.095 μT (SE = 0.026), Ros Room에서의 극저주파자기장 평균 노출수준은 0.501 ± 0.001 μT (SE = 0.000)로 나타났다.

생산 라인

측정 근로자수

극저주파자기장 노출수준 (μT)

AM SD SE GM GSD 범위

최저 최고 p값 Fab 63 0.569 0.145 0.018 0.557 1.207 0.5 1.42

0.618 Module 13 0.565 0.095 0.026 0.558 1.166 0.5 0.79

Ros room 4 0.501 0.001 0.000 0.501 1.002 0.5 0.5 합계 80 0.565 0.134 0.015 0.554 1.196 0.5 1.42 표Ⅳ-16. 생산 라인별 극저주파자기장 개인 평균노출수준

※ AM : 산술평균, SD : 표준편차, SE : 표준오차, GM : 기하평균, GSD : 기하표준편차

그림Ⅳ-16. 생산 라인별 극저주파자기장 개인 평균노출수준 4.2.2.4. 공정별 개인노출수준

공정에 따른 극저주파자기장 개인 최대노출수준은 표Ⅳ-17과 같이 TFT 라인 0.597 ± 0.197 μT (SE = 0.041), CF 라인 0.582 ± 0.142 μT (SE = 0.039), Module 라인 0.565 ± 0.095 μT (SE = 0.026), LC 라인 0.539 ± 0.077 μT (SE = 0.015 순 으로 나타났다. 그림Ⅳ-17와 같이 공정 간 근로자 극저주파자기장 평균 노출수준은 통계적으로 유의한 차이가 없는 것으로 분석되었다(

F

(3, 72)= 0.788,

p

= 0.505).

공정 측정 근로자수

극저주파자기장 노출수준 (μT)

AM SD SE GM GSD 범위

최저 최고 p값 TFT 23 0.597 0.197 0.041 0.578 1.266 0.5 1.42

0.505 CF 13 0.582 0.142 0.039 0.569 1.228 0.5 0.97

LC 27 0.539 0.077 0.015 0.535 1.129 0.5 0.81 Module 13 0.565 0.095 0.026 0.558 1.166 0.5 0.79 합계 76 0.568 0.137 0.016 0.557 1.199 0.5 1.42 표Ⅳ-17. 공정별 극저주파자기장 개인 평균노출수준

※ AM : 산술평균, SD : 표준편차, SE : 표준오차, GM : 기하평균, GSD : 기하표준편차

그림Ⅳ-17. 공정별 극저주파자기장 개인 평균노출수준

4.2.2.5. 직무별 개인노출수준

근로자 직무에 따른 극저주파자기장 평균 노출수준은 표Ⅳ-18과 같이 엔지니어의 개인 평균 노출수준은 0.580 ± 0.156 μT (SE = 0.022), 오퍼레이터의 개인 최대노 출수준은 0.545 ± 0.083 μT (SE = 0.017)로 파악되었다. 엔지니어의 극저주파자기 장 평균 노출수준이 오퍼레이터보다 높았지만 그림Ⅳ-18과 같이 통계적으로는 유의 한 차이가 없는 것으로 파악되었다(

t

(74) = 1.032

p

= 0.306)

직무 측정 근로자수

극저주파자기장 노출수준 (μT)

AM SD SE GM GSD 범위

최저 최고 p값 Engineer 51 0.580 0.156 0.022 0.566 1.222 0.5 1.42

0.306 Operator 25 0.545 0.083 0.017 0.540 1.143 0.5 0.79

합계 76 0.568 0.137 0.016 0.557 1.199 0.5 1.42 표Ⅳ-18. 직무별 극저주파자기장 개인 평균노출수준

※ AM : 산술평균, SD : 표준편차, SE : 표준오차, GM : 기하평균, GSD : 기하표준편차

그림Ⅳ-18. 직무별 극저주파자기장 개인 평균노출수준

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