Kwang-Ho Kim†
†
Department of Solar Energy and Engineering, Cheongju University
ABSTRACT
Using a combined CVD and ALD equipment system, multi-layer quantum well structures of Al
2O
3/a-Si/Al
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3were fabricated on silicon Schottky junction devices and implemented to quantum well solar cells, in which the 1~1.5 nm thicknesses of the aluminum oxide films and the a-Si thin film layers were deposited at 300°C and 450°C, respectively.
Fabricated solar cell was operated by tunneling phenomena through the inserted quantum well structure being generated electrons on the silicon surface. Efficiency of the fabricated solar cell inserted with multi-quantum well of 41 layers has been increased by about 10 times that of the solar cell of pure Schottky junction solar cell.
Key Words : Silicon solar cell, Schottky junction solar cell, Al
2O
3/a-Si/Al
2O
3structure, Combined CVD and ALD equipment, Quantum well solar cell
1. 서 론
최근, 실리콘계 태양전지의 효율 향상과 저가 생산 의 중요성은 날로 증대되고 있다. Si은 이미 반도체산 업에서 전기적, 화학적, 물리적 특성이 뛰어나고 비독 성이며 쉽게 구할 수 있는 안정성이 증명된 물질임이 증명되었다. 제1세대 태양전지는 고품질 실리콘을 사 용한 경우를 의미하는데, 이러한 고품질 실리콘을 사용 함으로써 결함이 적기 때문에 높은 효율이 기대되지만 단일 밴드갭 소자에 대하여서는 한계효율에 다다르고 있는 실정이다[1].
이러한 상황에서 고효율의 실리콘계 태양전지를 실 현하기 위한 구조 및 공정 기술들의 개선에 대한 필요 성이 더욱 중요해지고 있다. 특히, 공정상에서 투과손 실, 양자손실, 전자-홀의 재결합 손실, 태양전지 표면의 반사손실, 전류전압 특성에 기인하는 손실 등이 발생하 는데, 변환효율을 개선하기 위해서는 이러한 손실이 태
양전지의 어느 부분에서 일어나는지 조사하고, 태양전 지의 구조설계와 공정개선을 통하여, 손실을 최소화 할 수 있는 방안이 요망된다[2,3]. 이러한 방안의 일환으 로 최근에 태양전지에 있어서 p형과 n형 반도체 사이 에 다층의 양자우물구조를 삽입하여 태양광의 투과손 실 저감과 태양광 단파장손실 저감시킴으로써 이론적 변환효율의 한계를 뛰어넘는 고효율 태양전지를 얻고, 제조원가를 절감시키는 실용 가능한 양자우물구조 태 양전지 및 그 제조방법이 제안되었다. 이러한 구조는 기본적으로 절연체와 절연체 사이에 삽입된 실리콘 양 자우물 구조에 있어서 실리콘 박막의 두께를 Bohr반경 이하로 작게 할 때에 유효 밴드갭이 증가되어 태양광 의 투과 손실과 단파장 손실을 저감시키는 현상을 이 용하는 것이다[4].
본 연구에서는 태양전지의 기본적인 변환효율 개선 가능성을 확인하기 위하여 Al
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3/a-Si/Al
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3우물구조 를 다층으로 적층시킨 구조를 간단한 구조의 소자인 Schottky 접합의 태양전지에 적용하였다. 다층우물구조 의 삽입여하에 따른 Schottky 다이오드와 태양전지에
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