http://dx.doi.org/ 10.5515/KJKIEES.2013.24.9.892 ISSN 1226-3133 (Print) ․ISSN 2288-226X (Online)
G-Band 도파관 산란 계수 정밀 측정
Precise Measurements of Waveguide Scattering Parameters in G-Band
강진섭․김정환․조치현․김대찬
Jin-Seob Kang․Jeong-Hwan Kim․Chihyun Cho․Dae-Chan Kim 요 약
본 논문에서는 (서브)밀리미터파 대역에서 산란 계수 정밀 측정이 어려운 요인 및 보다 정확한 측정을 하기 위한 방안을 기술하였으며, G-band(140～220 GHz)에서의 측정 사례를 제시하였다. 우선 마이크로파 대역과 (서 브)밀리미터파 대역에서 사용되는 산란 계수 측정시스템(벡터회로망 분석기)의 동작 원리에 대한 차이점을 파 악하고, (서브)밀리미터파 대역 산란 계수 측정시스템을 보다 잘 운영하기 위한 방안을 기술하였다. 그리고 더 좋은 도파관 전송 특성 및 연결 반복도를 얻기 위한 방안과 반사 계수 크기가 작은 피측정기를 정밀 측정하기 위한 방안을 기술하였다.
Abstract
This paper discusses difficulties in precise measurements of the scattering parameters in (sub-)millimeter-wave range and tips for more accurate measurements, and provides measurement examples in the G-band(140 ～220 GHz). First, one investigates the differences in operating principles of scattering parameters measurement systems used in microwave and (sub-)millimeter-wave ranges and describes tips for better operation of the (sub-)millimeter-wave scattering parame- ters measurement system. In addition, one describes tips for better transmission properties and connection repeatability of waveguides and a precise measurement method for devices with small reflection coefficients.
Key words : Waveguide Measurement, Scattering Parameters, (sub-)Millimeter-Wave, G-Band
한국표준과학연구원 기반표준본부 전자파센터(Center for Electromagnetic Wave, Division of Physical Metrology, Korea Research Institute of Standards and Science(KRISS))
․Manuscript received May 24, 2013 ; Revised August 20, 2013 ; Accepted September 10, 2013. (ID No. 20130524-03S)
․Corresponding Author : Jin-Seob Kang (e-mail : [email protected])
Ⅰ. 서 론
산업사회가 정보화ㆍ고도화되면서 날로 부족해 지는 전파 자원을 효율적으로 활용하고, 대용량의 다양한 정보를 빠르게 통신하려는 사용자의 요구가 커짐에 따라 무선ㆍ이동 통신시스템의 사용 주파수 가 광대역화 및 고주파수화(밀리미터파 대역(30～
300 GHz) 으로 확산) 되고 있다. 이러한 현상은 앞으 로 더욱 가속화될 것으로 전망된다.
또한 정보통신뿐만 아니라 국방/보안/안전, 항공
우주, 의료, 교통, 자연과학(물리, 화학, 생물) 등의 분야가 빠른 속도로 발전하면서 전자파 관련 재료, 부품, 시스템 등의 사용이 급증하고 있어, 이에 대한 신뢰성 있는 측정 수요도 함께 증가하고 있다.
선진국의 산ㆍ학ㆍ연에서는 밀리미터파 대역뿐
만 아니라, 서브밀리미터파 대역(300～3,000 GHz)에
서도 첨단 전자파 측정 기술을 확보하여 차세대 통
신의 원천․핵심 응용ㆍ표준화 기술 선점을 위한 연
구를 활발하게 수행하고 있으며, 국방/보안/안전, 항
공우주, 의료, 교통, 자연과학 등의 분야에서도 원
천․핵심 응용 연구를 수행하고 있다 [1]～[4] . 국내 산학연에서는 주로 110 GHz까지의 측정 능 력을 보유하고 있으며, 최근 들어 광대역 통신, 핵융 합, 우주 전파 천문 등의 분야에서 최대 500 GHz까 지의 측정 수요가 있어, 이를 지원하기 위한 전자파 정밀 측정 기술 개발 연구가 진행되고 있다.
110 GHz 이상의 (서브)밀리미터파 대역에서 전자 파 정밀 측정이 용이하지 않은 주요 원인은 다음과 같다. 우선 전송 선로 측면에서 보면 저주파수 영역 에서 널리 사용되고 있는 동축 선로가 110 GHz 이상 의 주파수 대역에서는 상용 제품이 아직 개발되지 않아 도파관이 전송 선로로 주로 사용하고 있으나, 이 주파수 대역에서 도파관의 단면 개구면 크기가 수 mm보다 작아 원하는 신호 전송 특성 및 도파관 연결 반복도를 가지는 도파관 및 연결기(interfacing flange)를 제작하는 것이 저주파수 대역에 비해 용이 하지 않다 [5] . 또한, 현재의 기술 수준으로는 (서브)밀 리미터파 대역에서 저주파수 대역에 대등한 성능을 가지는 재료, 부품, 시스템 개발이 용이하지 않다.
(서브)밀리미터파 대역에서 전자파 측정 능력을 향상시키기 위해서는 전자파 분야의 주요 측정량인 산란 계수의 정밀 측정 기술 개발이 필요하다. 본 논 문에서는 (서브)밀리미터파 대역에서 산란 계수 정 밀 측정이 어려운 요인을 검토하고, 보다 정확한 측 정을 하기 위한 방안을 기술하였으며, G-band(140～
220 GHz)에서 측정 사례를 제시하였다.
본 논문에서는 우선 마이크로파 대역 및 (서브)밀 리미터파 대역에서 사용되는 산란 계수 측정시스템 (벡터회로망 분석기)의 동작 원리에 대한 차이점을 파악하고, (서브)밀리미터파 대역 산란 계수 측정시 스템을 보다 잘 운영하기 위한 방안을 기술하였다.
그리고 원하는 도파관 전송 특성 및 연결 반복도를 얻기 위한 방안을 기술하고, 반사 계수 크기가 작은 피측정기(DUT: Device Under Test)를 정밀 측정하기 위한 방안을 기술하였다.
Ⅱ. 산란 계수 측정시스템의 동작 원리
산란 계수 측정시스템은 DUT에 전자파를 입사시 킨 후, DUT에 의해 반사 또는 투과된 전자파를 입사 전자파(크기와 위상을)와 각각 비교하여 산란 계수
그림 1. 마이크로파 대역 산란 계수 측정 시스템 Fig. 1. Microwave scattering parameters measurement sys-
tem.
(반사 계수 및 투과계수)를 측정할 수 있는 전자파 분야의 핵심 계측기이다.
요즘 67 GHz 이하 주파수 대역에서 사용되는 마 이크로파 대역 상용 산란 계수 측정시스템은 하나의 박스로 구성되며, 내장된 주파수 변환기를 이용하여 마이크로파 대역에서 측정된 입사, 반사, 투과 신호 를 중간주파수(IF) 대역의 신호로 각각 변환한 후, 이 IF 신호들의 비로 산란 계수를 계산한다(그림 1).
그림 1은 마이크로파 대역 산란 계수 측정시스템 의 IF 주파수가 12 MHz일 때 DUT의 산란 계수를 18 GHz에서 측정하는 경우를 가정한 것으로 RF 신호 원에서 18 GHz의 신호를 발생시켜 동축 선로를 통 해 측정단자 Port #1과 #2 사이에 위치한 DUT에 입 사(a 1 , a 2 )시켜 DUT에 의한 반사/투과 신호 (b 1 , b 2 )를 18+0.012 GHz의 LO 신호원의 출력 신호와 혼합하여 12 MHz 의 IF 입사 신호 (a 0 , a 3 ) 및 반사/투과 신호 (b 0 , b 3 )를 얻어 그 비로 산란 계수를 얻는 것을 보여 준다.
그림 1의 마이크로파 대역 산란 계수 측정시스템
과 같이 주파수 변환기가 측정시스템에 내장되어 있
는 구조는 주파수가 증가하면 신호 파장이 짧아져
주파수 변환기의 단자와 DUT 사이의 전기적 거리
증가로 신호의 전송 손실이 증가하여 측정 불확도가
커짐으로 (서브)밀리미터파 대역 산란 계수 측정에
는 적합하지 않다. 그러한 사유로 (서브)밀리미터파
대역 상용 산란 계수 측정시스템은 주파수 변환기의
단자와 DUT 사이의 거리를 최대한 가까이 하기 위
해 67 GHz 이상의 산란 계수 측정이 외장형 주파수
변환기에서 수행되도록 구성되어 있다(그림 2).
그림 2. ( 서브)밀리미터파 대역 산란 계수 측정 시스템 Fig. 2. (Sub-)millimeter-wave scattering parameters mea-
surement system.
그림 2는 (서브)밀리미터파 대역 산란 계수 측정 시스템의 IF 주파수가 12 MHz일 때 DUT의 산란 계 수를 216 GHz에서 측정하는 경우를 가정한 것으로 측정시스템 본체의 RF 및 LO 신호원에서 18 GHz와 18+0.001 GHz 의 신호를 각각 발생시켜 RF 및 LO 케 이블을 통해 외장형 주파수 변환기에 공급하면 주파 수 변환기는 두 신호를 12배 체배한 후 216 GHz의 RF 신호를 도파관 선로를 통해 측정단자 Port #3과
#4 사이에 위치한 DUT에 입사 (a 5 , a 6 )시켜 DUT에 의한 반사/투과 신호 (b 5 , b 6 )를 216+0.012 GHz의 LO 신호와 혼합하여 12 MHz의 IF 입사 신호 (a 4 , a 7 ) 및 반사/투과 신호 (b 4 , b 7 )를 얻어 그 비로 산란 계수를 얻는 것을 보여준다.
그림 3은 G-band 산란 계수 측정시스템이 측정시 스템 본체로서 IF 신호 수신기 역할을 하는 마이크 로파 대역 벡터 회로망 분석기와 G-band 외장형 주 파수 변환기 및 도파관 정렬장치로 구성되는 것을 보여준다. 한편, 산란 계수 측정 시스템을 교정하기 위해서는 임피던스 표준기로 구성되는 도파관 교정 키트(calibration kit)도 필요하다.
마이크로파 대역에 비해 (서브)밀리미터파 대역 에서 사용되는 산란 계수 측정시스템의 주요 차이는 67 GHz 이상에서 산란 계수 측정에 외장형 주파수 변환기가 사용되고, 주파수 변환기의 측정단자 (그림
그림 3. G-band 산란 계수 측정 시스템
Fig. 3. G-band scattering parameters measurement sys- tem.
2에서 Port #3, #4)와 DUT를 연결하기 위해 동축 선 로 대신에 도파관이 사용된다는 것이다. 외장형 주 파수 변환기를 사용할 때 고려해야 되는 사항들을
Ⅲ장에 기술하고, (서브)밀리미터파 대역 도파관 사 용할 때 고려해야 되는 사항들은 Ⅳ장에 기술하였다.
Ⅲ. (서브)밀리미터파 대역 산란 계수 측정시스템 운영
일반적으로 주파수 변환기가 증폭기, 주파수 체배 기 및 혼합기 등과 같은 능동기기들로 구성이 됨으 로, 외장형 주파수 변환기를 최적의 환경에서 동작 시켜 산란 계수를 보다 정확히 측정하기 위해서는 다음 사항들을 고려하는 것이 중요하다.
․사용하는 동안에 제작사 사양에 따라 충분하면 서도 크기가 변하지 않는 RF 및 LO 신호를 주 파수 변환기에 공급해야 된다. 만약 안테나 측 정에서와 같이 외장형 주파수 변환기가 산란 계수 측정시스템의 본체와 멀리 떨어져 있는 경우에는 측정시스템 본체와 주파수 변환기를 연결하는 길이가 긴 RF 및 LO 케이블의 손실을 보상하기 위해 주파수 변환기의 RF 및 LO 경로 에 적당한 이득을 가진 증폭기를 내장시킬 필 요가 있다 [6] .
․산란 계수 측정시스템은 신호의 크기뿐만 아니
라, 위상까지 측정해야 되므로 사용하는 동안에
RF 및 LO 신호의 위상 안정화가 매우 필요하
다. (서브)밀리미터파 대역 주파수 변환기는 원
하는 측정주파수를 얻기 위해 입력된 RF 및 LO
신호의 주파수를 여러 배 체배하므로 작은 위
0.1 1 10 100 1000 0.0
0.5 1.0 1.5 2.0
G-band short (Normalized by IF bandwidth 10 Hz)
M a xi m u m d iff e re n ce o f |S
11| (d B )
IF bandwidth (kHz)
그림 4. G-band 단락의 정규화된 반사 계수의 크기 반복도의 IF 대역폭 의존성
Fig. 4. Dependence of repeatability for magnitude of nor- malized reflection coefficient of a G-band short on IF bandwidth.
상 변화를 가진 신호도 체배하면 위상 변화가 크게 증폭된다. 따라서 산란 계수를 측정하는 동안에 RF 및 LO 케이블의 움직임을 최소화해 야 되며, 가능하다면 케이블 움직임에 위상 변 화가 둔감한 케이블을 사용해야 된다.
․마이크로파 대역에 비해 (서브)밀리미터파 대 역에서 사용되는 산란 계수 측정시스템의 성능 이 아직 대등하지 못해 산란 계수를 정밀 측정 을 위해서는 IF 대역폭을 100 Hz보다 작게 하는 것이 필요하다. 그림 4는 G-band에서 주파수 간 격이 100 MHz로 설정된 교정되지 않은 산란 계 수 측정시스템의 측정단자에 단락(short)을 연 결한 상태에서 IF 대역폭을 100 Hz에서 1 MHz 까지 변화시키면서 측정된 반사 계수 크기를 IF 대역폭이 10 Hz일 때 얻은 것으로 정규화한 후 그 최대 차이를 IF 대역폭에 대한 함수로 제시 한 것으로 측정 반복도가 약 0.02 dB보다 좋기 위해서는 IF 대역폭이 100 Hz보다 작아야 됨을 보여 준다.
․능동기기의 산란 계수를 측정하는 경우, 크기가 큰 입력신호에 의한 능동기기의 포화, 고 출력 신호에 의한 수신측 주파수 변환기의 파손을 방지하기 위해 주파수 변환기의 RF 신호 경로 에 수동 가변 감쇠기를 내장시킬 필요가 있다 [6] .
․낮은 주파수(예를 들어 10 GHz)에 비해 높은 주 파수(예를 들어 40 GHz)의 RF 및 LO 신호를 사 용하는 주파수 변환기의 경우, 적게 체배하고도
원하는 높은 측정주파수에서 크기가 큰 출력 신호를 얻을 수 있어 보다 넓은 측정 범위(dy- namic range) 를 가질 수 있으나, 측정시스템 본 체와 주파수 변환기를 연결하는 RF 및 LO 케이 블에 높은 주파수의 신호가 전달되므로, 낮은 주파수의 신호를 사용하는 경우에 비해 측정과 정에서 이들 케이블의 움직임에 더 많이 영향 을 받을 수 있고, 전송손실이 크다는 단점을 가 져, 길이가 긴 RF 및 LO 케이블을 사용하는 안 테나 측정에는 적합하지 않을 수 있다 [6] .
Ⅳ. (서브)밀리미터파 대역 도파관
도파관의 연결부 (flange)에 대한 이상적인 요건은 다음과 같다.
․도파관 단면의 개구면 형상은 그림 5의 왼쪽 그 림과 같이 폭에 대한 높이의 비(aspect ratio)가 2:1인 직사각형으로 그 모서리가 정확히 직각이 되어야 한다(예를 들어 G-band 도파관 단면의 개구면 크기는 1.296 mm×0.648 mm 임(그림 6)).
․도파관 개구면의 좌표계가 연결부의 정렬 핀에 대해 정의되는 좌표계와 정확히 일치해야 된다.
(a) 이상적인 형상 (b) 모서리가 둥근 형상 (a) Ideal (b) Rounded
그림 5. 도파관 단면
Fig. 5. Waveguide cross-section.
정렬 핀
그림 6. 정렬 핀을 가진 범용 G-band 도파관의 연결 부(UG-387/U)
Fig. 6. Flange of a general-purpose G-band waveguide
with alignment pin.
현재의 도파관 제작 기술로는 마이크로파 대역용 도파관 제작에는 문제가 없으나, 단면의 개구면 크 기가 수 mm보다 작은 (서브)밀리미터파 대역용 도 파관에 대해서는 제작 능력의 한계로 인해 모서리가 둥글며, aspect ratio가 2:1인 직사각형에 가까운 형상 을 가진다(그림 6의 오른쪽 그림). 현재 (서브)밀리미 터파 대역 도파관의 연결부에 대한 표준화 연구가 활발히 수행되고 있다 [7] . 한편, (서브)밀리미터파 대 역용 도파관 제작에는 이상적인 도파관 단면의 개구 면 형상을 얻기 위해 전기주조(electro-forming) 기법 이 사용되고 있다.
한편, 이상적인 개구면 단면 형상을 가진 도파관 을 사용하더라도 (서브)밀리미터파 대역용 도파관 단면의 개구면 크기가 매우 작고, 연결부 정렬핀의 위치 부정확성 및 유격에 의해 두 도파관를 연결할 때 그림 7에서와 같은 문제가 발생할 수 있어 두 도 파관을 정확히 정렬하여 연결하는 것이 용의하지 않
다 [5],[8] . 그림 8은 G-band에서 주파수 간격이 100
MHz 로 설정되고, 1-port 교정된 산란 계수 측정시스 템의 측정 단자에 단락을 180°씩 8번 회전(Up-1,2,3,4 / Down-1,2,3,4)시키면서 연결하여 측정된 반사 계수 크기를 Up-1에 대해 측정된 것으로 정규화하여 얻은 Up-2,3,4와 Down-2-3-4를 제시한 것으로 측정 편차가 약 0.03 dB 정도임을 보여 준다.
보다 정확하게 두 도파관을 연결하기 위한 방안 은 다음과 같다.
(a) 폭 방향 틀어짐 (b) 높이 방향 틀어짐 (a) Width offset (b) Height offset
(c) 대각선 방향 틀어짐 (d) 회전 틀어짐 (c) Diagonal offset (d) Rotational offset 그림 7. 두 도파관의 정렬 틀어진 연결
Fig. 7. Misaligned connections of two waveguides.
140 160 180 200 220
-0.04 -0.02 0.00 0.02 0.04
0.06 |S11| of G-band short (Normalized by Up-1) Up-2 Up-3 Up-4 Down-2 Down-3 Down-4
N o rm a liz e d | S
11| (d B )
Frequency (GHz)
그림 8. G-band 단락의 정규화된 반사 계수 크기의 반복도
Fig. 8. Repeatability for magnitude of normalized re- flection coefficient of a G-band short.
․그림 6의 도파관의 경우 90° 간격으로 배치된 4 개의 나사를 사용하여 두 도파관을 연결한다.
만약 4개의 나사 중 한쪽의 나사를 너무 강하게 조이면 반대쪽의 도파관 연결부가 벌어지게 되 므로 4개의 나사를 일정한 힘으로 대각선 방향 으로 번갈아가며 조이는 것이 필요하다. 이 문 제를 해결하기 위해서는 도파관 연결부의 외곽 테두리를 개구면과 같은 높이로 제작된 anti- cocking 형태의 연결부를 가진 도파관을 사용하 는 것이 바람직하다(그림 9).
․연결부 정렬핀 만으로 두 도파관 단면의 개구 면을 정렬하는 것이 용이하지 않으므로 도파관 개구면 상하에 index 핀을 추가한 정밀급 연결 부를 가진 도파관도 사용되고 있다(그림 9).
․도파관을 연결하기 위해서는 사전에 두 도파관 의 단면 개구면을 정렬시킬 필요가 있다. 이 경 우, 직사각형 형상의 판을 두 개구면에 각각 부
Index 홀
그림 9. Index 핀/홀을 가진 anti-cocking 형태의 정밀 급 G-band 도파관의 연결부(UG-385/U) Fig. 9. Flange of an anti-cocking precision G-band wa-
veguide with index pin/hole.
(a) 도파관 정렬
(a) Waveguide alignment
(b) Clamp 을 사용한 도파관 연결 (b) Waveguide connection using clamp 그림 10. G-band 도파관의 정렬 및 연결
Fig. 10. Alignment and connection of G-band wavegui- des.
착한 후 두 직사각형의 모서리를 서로 일치시 키면 보다 용이하게 두 도파관을 정렬할 수 있 다(그림 10(a)).
․일반적으로 나사를 사용하여 도파관을 연결하 나, 좁은 공간에서 도파관을 연결하거나 좋은 연결 반복도를 확보하기 위해 일정한 힘으로 도파관을 연결하기 위해서는 클램프를 사용하 는 것이 보다 유용하다(그림 10(b)).
Ⅴ. 크기가 작은 반사 계수 정밀 측정
산란 계수 측정시스템의 교정법 중에서 상대적으 로 사용하기는 용이하나, 1-port 교정법(OSL: Open- Short-Load)이 2-port 교정법인 TRL(Thru-Reflect-Li- ne) 교정법 [9] 보다 반사 계수 크기가 작은 DUT에 대 한 측정정확도가 떨어지는 주요 요인은 1-port 교정 과정에 사용되는 부하(load)의 실제 특성값을 사용하 지 않고, 반사 계수 크기를 영으로 가정하기 때문이 다. 만약 특성을 알고 있는 부하를 사용하여 산란 계 수 측정시스템를 1-port 교정하여 사용한다면, 복잡 한 2-port 교정을 하지 않고도 반사 계수 크기가 작 은 DUT에 대해 비교적 신뢰성 있는 측정값을 얻을 수 있다.
G-band에서 타당성을 보이기 위해 그림 11에서
140 160 180 200 220
0.00 0.01 0.02 0.03 0.04 0.05
Frequency [GHz]
M a g in itu d e o f S
11G-band Sliding Load (SN : 100007) #1 1-port calibration with uncalibrated load #2 1-port calibration with calibrated load #3 TRL
0.000 0.002 0.004 0.006 0.008 0.010
M a g n itu d e d iff e re n ce
#4 Difference of #2 and #3
그림 11. TRL 및 교정되지 않은/교정된 부하를 사용한 1-port 방법으로 교정된 산란 계수 측정시스 템으로 측정된 G-band 이동부하의 반사 계 수 크기 및 크기 차이
Fig. 11. Magnitudes and their difference of the reflec- tion coefficients of a G-band sliding load us- ing a vector network analyzer calibrated by TRL and one-port calibration method(OSL) with a un- calibrated/calibrated loads, respectively.
TRL 법으로 교정된 산란 계수 측정시스템으로 측정 된 부하의 값을 사용하여 산란 계수 측정시스템을 1-port 교정한 후 측정된 이동 부하(sliding load)의 반 사 계수(그림 11에서 #2)와 TRL 법으로 교정된 산란 계수 측정시스템으로 측정된 동일한 이동 부하의 반 사 계수(#3)를 비교하여 보았다. 참고로 반사 계수 크기를 영으로 가정한 부하를 사용하여 산란 계수 측정시스템를 1-port 교정하고 얻은 결과(#1)도 그림 11에 함께 보였다. 일반적으로 주파수가 증가하면 동축형 기기의 경우 측정불확도가 증가하나, 도파관 형 기기의 경우 반대로 측정불확도가 감소한다. 측 정 결과, 반사 계수의 크기 차이(#4)는 같은 경향을 보이고 있으며, 약 0.002보다 작았다(그림 11).
Ⅵ. 결 론
본 논문에서는 (서브)밀리미터파 대역에서 전자 파 분야의 주요 측정량인 산란 계수를 정밀 측정하 기 어려운 주요 원인을 검토하고, 이들을 극복하기 위한 방안을 기술하고, G-band(140-220 GHz)에서 측 정 사례를 제시하였다.
우선 마이크로파 대역 및 (서브)밀리미터파 대역
에서 사용되는 산란 계수 측정시스템의 동작 원리에
대한 차이점을 파악하고, (서브)밀리미터파 대역 산
란 계수 정밀 측정을 위해 외장형 주파수 변환기 및 도파관 사용할 때 고려해야 되는 사항들을 기술하였 다. 그리고 특성을 알고 있는 부하를 산란 계수 측정 시스템의 1-port 교정에 사용하여 반사 계수 크기가 작은 피측정기를 정밀 측정하기 위한 방안을 기술하 였다.
향후 (서브)밀리미터파 대역에서 산란 계수를 정 밀 측정할 때 유용하게 활용될 수 있을 것으로 기대 된다.
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1998 년 3월～현재: 한국표준과학연구원 전자파센터 책임 연구원
[주 관심분야] 전자파 측정, 전자파 산란 및 역산란 등
김 정 환
1978 년 2월: 서울대학교 전자공학 과 (공학사)
1980 년 8월: 한국과학기술원 전기 및 전자공학과 (공학석사) 2000 년 2월: 한국과학기술원 전기
및 전자공학과 (공학박사) 1981 년 10월～현재: 한국표준과학연 구원 전자파센터 책임연구원
[주 관심분야] 전자파측정표준(RF 전압, 전력, 안테나, 물
질상수 등)
조 치 현
2004 년 2월: 홍익대학교 전자전기 제어공학과 (공학사)
2006 년 2월: 홍익대학교 전파통신 공학과 (공학석사)
2009 년 2월: 홍익대학교 전자정보 통신공학과 (공학박사)
2009 년 2월～2012년 5월: 삼성탈레 스 전문연구원
2012 년 6월～현재: 한국표준과학연구원 전자파센터 선임 연구원
[주 관심분야] 전자파 측정 표준, 초고주파 회로 및 안테 나 설계
김 대 찬
