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[신기술 소개] Single-layer MoS2 transistors

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NEWS & INFORMATION FOR CHEMICAL ENGINEERS, Vol. 29, No. 3, 2011339

신기술 소개

이차원 물질은 일차원 물질과 비교했을 때 복잡한 구조를 제조하기가 상대적으로 쉬워 차세대 나노전자 소자의 물질로 이용하기에 매력적이다. 다양한 물리 적인 특성과 높은 이동성(mobility)을 갖는 이차원 물 질인 graphene은 가장 많은 연구가 진행되고 있다.

그러나 순물질(pristine)의 graphene은 트랜지스터를 포함한 다양한 응용분야에서 필수적인 밴드갭(band gap)을 가지고 있지 않다. 이러한 graphene이 밴드갭 을 갖게 하기 위해서는 복잡한 제조과정이 필요하고 변형된 실리콘 박막의 이동성을 감소시키거나 고전압

을 필요로 한다. 디지털 논리장치인 CMOS 같은 소 자에서 실리콘을 대체하기 위해서는 on/off 전류비율 이 104~107, 밴드갭이 400 meV를 초과해야 바람직 하다. 전이금속 dichalcogenide 계열의 물질인 MoS2

결정은 수직적으로 쌓여있는 구조이고 단층(single layer)의 두께는 6.5 Å으로 van der Waals 상호작용 으로부터 층을 형성하고 있다[그림 1(A)]. 단층 MoS2는 1.8 eV의 고유 밴드갭을 가지고 있지만 mobility는 0.5~3 cm2V-1s-1로 매우 낮은 수준이다.

또한, graphene이나 박막 실리콘의 mobility 값과 비

Single-layer MoS

2

transistors

그림 1. (A) 단층 MoS2구조의 삼차원적 구조, (B) 단층 MoS2트랜지스터 제조의 삼차원적 모식도, (C) 단층 MoS2FET의 단 면 구조와 소자의 특성을 구현하기 위한 전기 접속의 개념도, (D) on/off 전류비율을 확인하기 위한 bias voltage에 따른 전류의 변화.

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340NICE, 제29권 제3호, 2011

신기술 소개

Electrochemical supercapacitor(EC)는 전달하는 electrical power가 크고 수명이 길다는 장점이 있지 만, 에너지 저장밀도가 너무 낮은 점이 문제로 지적되 고 있다. MnO2와 같은 pseudocapacitive 전이금속 산 화물은 비싸지 않고 환경에 유해하지 않으면서 커패 시턴스가 높기 때문에 EC 전극으로 많이 사용된다.

그러나 MnO2의 낮은 전도성이 충/방전 속도를 제한 하는 문제를 가지고 있는데, 최근 일본 Tohoku 대학 교의 Lang 등은 이러한 문제를 극복하고자 전도성이 개선된 nanoporous gold(NPG)와 nanocrystalline MnO2로 만들어진 복합구조 전극을 보고하였다. 이 구조에서 NPG는 MnO2를 통해서 전자가 전달되는 것을 가능하게 하며 MnO2와 전해질 사이의 빠른 확 산을 가능하게 한다. 이는 이론적인 값과 거의 유사한 MnO2의 커패시턴스를 가지는데 이와 같이 높은 커패 시턴스와 충/방전 속도를 가지는 구조는 높은 에너지

저장밀도와 높은 power가 결합된 EC 전극에 사용될 수 있는 매우 유망한 후보가 된다. 이 연구팀은 전도성 NPG를 제조하기 위하여 Ag/Au로 이루어진 합금을 HNO3에서 de-alloying하였고, 이렇게 제조된 NPG에 nancrystalline MnO2을 도금하여 100 nm 두께의 NPG/MnO2복합박막을 제작하였다. Nanocrystalline MnO2의 도금시간을 조절함으로써 MnO2의 적재 질 량을 제어할 수 있는데, 도금 시간이 5분 일 때 MnO2

의 적재 질량은 매우 작았다. 도금 시간을 10분, 20분 으로 늘리면 MnO2의 적재 질량이 증가하고 단위 질 량당 전류밀도는 도금되지 않은 NPG로 만들어진 전 극 보 다 훨 씬 높 았 다 . 이 러 한 결 과 로 pseudocapacitance 물질을 3차원 nanoporous 구조에 넣음으로써 커패시턴스가 상당히 증가한다는 것을 보 였다. 결과적으로 단위 부피당 커패시턴스와 전류밀 도는 pseudocapacitive MnO2의 적재량에 영향을 많 교해보았을 때, 밴드갭이 증가하면 mobility가 감소하

는 경향이 있다. 이와 같이 mobility가 낮은 MoS2 단점을 개선하는 연구결과가 최근 보고되었다. 스위 EPFL(Ecole Polytechnique Federale de Lausanne)의 Radisavljevic 등은 상온에서 나노리본 graphene의 값과 비슷한 200 cm2V-1s-1의 mobility를 가지는 단층 MoS2를 보고하였다. 이 연구팀이 제작한 단층 MoS2은 graphene 나노리본보다 큰 밴드갭을 가 지며 지금까지 제조된 가장 얇은 실리콘 막 보다 더 얇지만 mobility가 더 높았다. 이 연구팀은 단층 MoS2

나노시트를 이용하여 트랜지스터도 제조하였는데 상 부 gate는 유전상수가 25 정도로 높은 halfnium oxide를 사용하였고 하부 gate 아래에 mobility가 200

cm2V-1s-1 이상인 단층 MoS2를 booster로 이용하였 다[그림 1(B), (C)]. 그리하여 상온에서 500 mV의 bias voltage를 인가하였을 때 on/off 전류비율이 1×

108 정도인 결과를 얻었다[그림 1(D)]. 또한 단층 MoS2는 직접적인 밴드갭을 가지기 때문에 electron- hole 재결합 시 음파의 형성이 일어나지 않아 전형적 인 트랜지스터보다 더 낮은 전력소모를 선호하는 interband tunnel FET을 구성하는데 사용될 수 있음 도 보였다. 이 연구팀이 개발한 단층 MoS2 트랜지스 터는 일반적인 실리콘 기반 전자소자의 성능수치와 유기도체와 관련된 공정의 용이성이 함께 결합되어 전자소자 산업에 중요한 역할을 하리라고 기대한다 [Nature Nanotechnology, Vol. 6, p. 147(2011)].

Nanoporous metal/oxide hybrid electrodes for

electrochemical supercapacitor

수치

그림 1. (A) 단층 MoS 2 구조의 삼차원적 구조, (B) 단층 MoS 2 트랜지스터 제조의 삼차원적 모식도, (C) 단층 MoS 2 FET의 단 면 구조와 소자의 특성을 구현하기 위한 전기 접속의 개념도, (D) on/off 전류비율을 확인하기 위한 bias voltage에 따른 전류의 변화.

참조

관련 문서